200704手机单芯片后电源管理面临的挑战　随着蜂窝电话变得越来越先进，系统工作时的功耗以及待机时的功耗也随之增加。因此，便携式无线设备的电源管理设计在 I/O接口、能量管理以及电池使用寿命方面都面临着新的挑战。　　数字设计人员在业界率先实施了采用超深亚微米（0.13μm、0.09μm及0.065μm）的微处理器，他们发现，采用更薄的氧化物以及更短的通道长度能够产生速度更快的晶体管。模拟基带 (ABB) 与射频 (RF)设计人员也紧随其后，努力寻求一种集成方法，以便为其最终客户提供单芯片无线解决方案。　　但是，电压的缩放比例无法与晶体管的缩放比例保持一致，这就导致了系统解决方案的漏电问题很严重，而漏电必然会缩短电池使用寿命。幸运的是，我们可用某些电源管理技术来降低单芯片解决方案的功耗。　　可确定的电源损耗形式有三种：工作电流消耗，待机电流消耗（有时也指休眠模式），关闭模式下的漏电消耗。在工作模式中，功耗是静态偏置电流功耗与平均开关或时钟（动态）功耗的总和。待机是一种低功耗状态，因为时钟已经被选通　(gated)或关闭，几乎所有的动态功耗都为零，在这种模式下，静态电流的大小决定了电池的寿命。最后，关闭模式的功耗是亚阈值 (sub-threshold)漏电的函数。亚阈值漏电是指当芯片关闭但输入电压仍存在时，芯片中晶体管具有的电流。　　如果超深亚微米 (UDSM) CMOS 工艺能够处理更高的电池电压（4.3V ～5.4V），则关闭模式下的损耗可忽略不计，因为有效通道长度将更长，并且栅极氧化层将更……