二期活动来啦，专家现场分享Cypress、NXP案例

OpenLab Day第二期活动将于9月2日火热来袭！这期活动亮点多多——NI和孤波专家携Cypress、NXP精彩应用案例，还有桌面式ATE级数字Pattern仪器动手实践课程来到NI直播间。在这个炎炎夏日，你除了可以选择足不出户在线上与技术专家们远程交流，更可以选择来到NI上海办公室现场参与OpenLab Day，顺便还可以参观OpenLab！
还在犹豫什么？

注：现场参与地点为NI上海办公室，坐标张江高科技园区内，由于场地限制，线下参与名额还请以报名确认信为准哦！

直播议程剧透
1:活动时间

9月2日14:00 – 16:15

2:日程安排

14:00– 15:00  SoC和MCU数字接口验证及Cypress、NXP案例分析

15:00– 16:00  桌面式ATE级数字Pattern仪器验证动手实践

16:00– 16:15    技术答疑及抽奖

3：分享嘉宾

王孜，上海孤波科技限公司资深应用工程师

王孜在RF原型开发与自动化测试领域有丰富经验，2019年加入上海孤波科技有限公司，目前主要负责实验室自动化测试的标准化与推广工作。

白爽，NI 半导体测试应用工程师

大客户支持工程师，分选机通讯专家，熟悉半导体产线测试开发及维护，致力于半导体模块化测试解决方案的研究。

精彩内容抢先看

Topic 1: SoC和MCU数字接口验证及Cypress、NXP案例分析（NI& 孤波）

概述：随着芯片应用场景的多变，更多设计公司采用集成IP的方式进行功能整合，这样更好地利用成熟IP，如电源管理、ADC、数字接口等，这样可大幅缩短芯片设计周期，新品上市时间也将大幅提前，产品形态也将更加的多样。但是如何在流片后的早期样片上发现漏洞并地进行特性分析，如何使用更加高效的方法进行验证。本次直播活动，NI携手合作伙伴为各位现场解析案例，看看NI及合作伙伴是如何帮助SoC及MCU企业进行高效post-silicon验证的。

Topic 2: 桌面式ATE级数字Pattern仪器验证动手实践（NI& 孤波）

概述：在实验室验证阶段使用大型的ATE进行Shmoo、时序的验证并不是一个成本最优的方案，而使用传统的测试测量仪器又无法很好提供相对应的功能，NI基于这一需求所设计的基于向量的数字Pattern仪器将使用紧凑型的PXI结构，在实验室的环境中即可满足传统ATE的向量调试和Debug，Scan Pattern调试等工作；同时搭配模拟和接口PXI仪器，实现针对接口的功能级、系统级的验证工作。

想具体了解PXI数字Pattern 仪器的强大功能么？在这一期OpenLab Day，资深应用工程师会为大家进行现场动手实践与分享。