ADI公司的MEMS加速度计实现结构缺陷的早期检测

中国，北京 —Analog Devices, Inc. (ADI)全球领先的半导体公司最近推出了三轴MEMS加速度计，能以极低的噪声执行高分辨率振动测量，可通过无线传感器网络实现结构缺陷的早期检测。最新ADXL354和ADXL355加速度计的低功耗性能可以延长电池寿命，同时通过降低电池更换次数而延长产品寿命。ADXL354和ADXL355的低噪声加上低功耗性能使得现在能以高性价比实现低电平振动测量应用，比如结构健康监控(SHM)。此外，ADXL354和ADXL355加速度计的倾斜稳定性提供了温度与时间范围内的出色可重复性，是采用惯性测量单元(IMU)和倾角计的无人机中方向与导航系统的理想之选。这些最新的加速度计产品可在所有环境下提供可重复的倾斜测量，它们在恶劣环境中无需进行大量校准即可实现最小倾斜误差。