Teledyne LeCroy发布了最新的SFF-8639双端口接口卡

基于NVM Expreee和SCSI Express监测和分析双端口SSDs

英特尔开发者峰会，San Francisco，CA，Sep 9,2013 – 提供协议测试解决方案的世界领导厂商Teledyne LeCroy，今天发布了一款用于SSDs测试的接口卡SFF-8639，用于分析基于PCI Express® 协议的双端口固态硬盘（SSDs）。SFF-8639双端口接口卡，需要与Summit协议分析仪配合使用，使协议分析仪能够监测、捕获、和记录PCIe®总线上主控背板和双端口SSD设备之间的通信。SFF-8639双端口接口卡支持PCIe的主控接口包括NVM Express(NMVe) 和 SCSI Express (SOP/PQI)等，协议数据速率支持2.5 GT/s 高至8 GT/s，支持每通道x2的线宽。

 “在今年的早些时候，Teledyne LeCroy发布了一款SFF-8639单端口接口卡，用于早期的基于PCIe的SSD和系统的连接，目前，双端口的SSD系统开发者需要同样方式的连接能力，并且为他们测试系统的搭建提供可靠的信号链路。”Teledyne LeCroy协议分析部门的产品市场经理John Wiedemeier说,“SFF-8639双端口接口卡支持SSD监测，不论是在A或B端口模式，还是双端口同时有效的状态下。”

 “存储系统开发人员专门设计高可靠性和高性能的系统，他们通常在任务关键服务器系统中采用NVM Express的功能。”英特尔公司的技术创新主管Jim Pappas说,“NVM Express的环境尤其需要可靠的协议分析工具，Intel非常高兴得看到Teledyne LeCroy开发的产品能够支持NVMe 企业级的存储系统。”

在使用SFF-8639连接器的企业级的大数据存储设备上，SFF-8639双端口接口卡能够为双端口SSDs提供连接和监测能力。双端口SSDs拥有两个独立的数据通道，为企业级数据存储环境提供了更高性能和更大规模的数据冗余。SFF-8639双端口接口卡能够使用2-1/2" 或 3"尺寸硬盘。使用接口卡时，将硬盘插入到硬盘匣中，接口卡支持与硬盘之间的SFF-8639接口机械和电气连接。接口卡将主控背板和存储设备之间的所有PCIe协议数据全部保存在双PCIe协议分析仪中，保证两端口数据的时间同步，其中的协议问题和性能参数可以用于后期的分析和调试。

“数据存储行业以往依靠SCSI Express技术达到高性能的要求，数据可用性和固态可靠性要求用户开始构建下一代的大规模数据存储系统。”SCSI贸易协会总裁和接口架构创新经理Martin Czekalski说，“诸如Teledyne LeCroy的测试仪器厂商已经开始从协议分析和测试工具方面支持SCSI Express环境。最新的SFF-8639双端口接口卡使得在存储系统开发和交互测试阶段能够精确监控数据端口链路。”

三年前，Teledyne LeCroy为第一家发布了带有NVM Express（NVMe）解码功能的PCI Express协议分析仪的厂商。自那时起Teledyne LeCroy先后已经增加了解码SCSI Express (SOP/PQI) 和 SATA Express (AHCI/PCIe)的解决方案。集成了所有三项PCIe SSD技术于同一台协议分析仪，使得开发者拥有了灵活的工具测试总线性能和数据传输的关键性细节。这一系列工具在过去的几年当中已经成为PCI SSD交互式测试的核心工具。