1.SAR型（逐次逼近型）ADC，这种ADC内阻都很大，一般500K以上。即使阻抗小的ADC，阻抗也是固定的。所以即使只要被测源内阻稳定，只是相当于电阻分压，可以被校正。
2.开关电容型，如TLC2543之类。他要求很低的输入阻抗用于对内部采样点燃快速充电。这时最好有低阻源，否则会引起误差。实在不行可以在外部并联一个很大 的 电容，每次内取样后，大电容的电压下降不多。因此并联外部大电容后，开关电容输入可以等效为一个纯阻性阻抗，可以被校正。
3.FLASH直接比较型,大多数ADC都是直接比较型，也称为闪速型，一般都是低阻抗的。要求低阻源。对外表现纯阻性，可以和运放直接相连。
4.双积分型，大多输入阻抗极高，几乎不用考虑阻抗问题
5.sigma_delta型。这是目前精度最高 的ADC类型，也是最难伺候的一种ADC。重点讲一下要注意的问题：
a.内部缓冲器的使用。sigmadelta型ADC属于开关电容型输入，必须有低阻源。所以为了简化外部设计，内部大多集成有缓冲器。缓冲器打开，则对外呈现高阻，使且不能到测0V。一定要特别小心！一般用在电桥测量中，因为共模范围都在1/2VCC附近。不必过分担心缓冲器的零漂，通过内部校零寄存器很容易校正的。
b.输入阻抗问题。sigmadelta型ADC属于开关电容型输入，在低阻源上工作良好。但是有时候为了抑制共模或者抑制奈奎斯特频率外的信号，需要在输入端加RC滤波器，要想一下电容充电特性就很容易明白的。还有一个折中的办法，把C取很大，远大于几百万倍的采样电容Cs（4-20PF），则输入等效纯电阻，分压误差可以用GAINOFFSET寄存器校正。
c.运放千万不能和sigamadelta型ADC直连，前面说过，开关电容输入电路电路周期用采样电容从输入端采样，每次和运放并联的时候，会呈现低阻，和运放输出阻抗分压，造成电压下降，负反馈立刻开始校正，但运放压摆率slewrate有限，不能立刻相应。于是造成瞬间电压跌落，取样接近完毕时，相当于高阻，运放输出电压上升，但压摆率使运放来不及校正，结果是过冲，而这时正是最关键的采样结束时刻。
d.差分输入和双极性的问题。SD型ADC都可以差分输入，都支持双极性输入。但是这里的双极性并不是指可以测负压，而是Vi+,Vi-两脚之间的电压。
京公网安备 11010802033920号
