AT-START-F403A评估板搭载了外置16M字节NOR QSPI Flash( EN25QH128A)。足够大的容量和速度能够适合很多应用，在freeRTOS环境下做一个粗浅测试，因测试环境简单结果可能有谬误，仅供参考。
1.SPIM初始化：
1.2SPIM配置flash
2. SPIM测试：
本次测试是完全应用环境下的测试，并非出于完全性指标测试，测试任务(线程)每秒启动一次测试循环，每次循环8个sector（4K）。每次测试过程是擦除扇区->逐字写入（4字节写入直到扇区满）->读扇区->校验。由于外部flash是104MHz操作频率，因此将AHB降到200MHz，以便外部flash操作在最好性能下。
2.1 SPIM写入测试方法：
写入4K样本数据计算完成写入所需时间。数据按照4字节写入操作，整个写入时间包括如下
2.2 SPIM读取测试方法：
读取刚才写入4K样本数据所需时间。读取按照4字节读出操作，整个读出时间包括如下：
3. SPIM粗测结果
3.1 需要说明固件库相关SPIM函数操作命名FLASH_ErasePage中的page，与器件page是不同概念，器件手册说明了page是不可擦除操作，但可以编程操作，函数page对应器件的是器件sector，固件操作就是按照sector 4K来的，使用中可能需要注意。
3.2 测试结果
测试结果如下图所示。
3.3 测试结果说明
3.3.1 扇区写入时间约在50-60ms，其中扇区擦除用时占比80%以上，编程写入时间约在8毫秒，其余时间约为1-3毫秒为系统状态查询
3.3.2扇区读取速度约在1毫秒及以内
本帖最后由 uuxz99 于 2020-10-5 16:54 编辑
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