拆解NG1灯具电源，板上测试MOS开关管，存在DS引脚短路现象，从板上拆下后测试DS正常，因此为电源板上其他回路短路。 从外观上可观察到压敏电阻出现炸裂，拆下压敏电阻后，电源上MOSFET开关管DS之间不再短路，因此为短路压敏电阻导致。 对其他元器件进行测试，发现电容存在容量严重降低，电源的保险丝、变压器等无异常。拆下压敏电阻后上电测试，电源可以点亮光源。
拆解失效电容NG1，内部存在铝膜熔融现象，展开铝膜与其他常规的CBB电容铝膜对比，失效NG1电容铝膜颜色偏黑。
对失效电容NG2进行金相切片+氩离子研磨切片分析，在SEM下可观察到电容内部铝膜熔融现象。由于送测样品的C1电容均出现了不同程度的失效，因此建议电源厂对同批次电容进行确认，同时加强电源的可靠性检验。
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铝膜熔融现象就是因为高压造成的？
引用: qwqwqw2088 发表于 2021-6-3 12:57 铝膜熔融现象就是因为高压造成的？
拆解NG1电容，内部存在铝膜熔融现象，展开铝膜与其他常规的CBB电容铝膜对比，失效NG1电容铝膜颜色偏黑，推断出现了氧化。对NG2电容进行金相切片，在SEM下可观察到电容内部铝膜熔融现象。
引用: 金鉴实验室邵工 发表于 2021-6-4 10:53 拆解NG1电容，内部存在铝膜熔融现象，展开铝膜与其他常规的CBB电容铝膜对比，失效NG1电容铝膜颜色偏黑， ...
分析的有道理
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