[其他芯片] 进芯电子AVP32F335的ADC使用时，采样值偏差

你好，我在用AVP32F335，在对外部标准的1.5v采样的时候，会出现采样值偏离较大，有些芯片甚至不到1.4v的采样值，实测AD口的信号是1.5v。下面是初始化的代码:

1.AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; 惹的祸

以上这个问题，首先要考虑的是ADCOFFTRIM寄存器。需要考虑系统出厂默认ADCOFFTRIM寄存器是否曾改变过？芯片在出厂测试时，会对每颗芯片的ADC测试，并把零点的偏差值写入ROM中，而在芯片脱离仿真启动的过程中，BOOT ROM的程序会自动调用ADC_cal()函数，其作用就是将ADCREFSEL和ADCOFFTRIM寄存器写事先芯片出厂存在ROM中的数据。但芯片仿真过程中，会自动跳过BOOT ROM，因此在例程中，InitAdc()函数起始，对ADC时钟使能后，就调用了ADC_cal()以写入ADCOFFTRIM值。注意，ADC时钟不使能，ADC寄存器是无法写入的。ADC在每次转换后，结果寄存器的值都会减去ADCOFFTRIM寄存器的值，此时的采样结果才是准确的。所以，采样值如果偏差过大，首先，可以设置断点看下ADCOFFTRIM的值是否是出厂值。ADCOFFTRIM出厂值在地址0x380085；ADCREFSEL出厂值在地址0x380083。如果ADCOFFTRIM不等于0x380085地址的值，且不为0，您的软件可能有重新对ADC校准的过程。如果ADCOFFTRIM等于0，还需要考虑文档中以下描述内容。

上图资料显示，ADCOFFTRIM寄存器的值是通过执行ADC_cal()函数来赋值的，而给ADC控制寄存器1的14位（RESET）置1，会清零ADCOFFTRIM以及其他ADC寄存器。因此，在RESET=1之后，一定要重复执行一次ADC_cal();相对于要重新配置ADC,以下测试过程可以完整体现此问题。如以下测试程序：

上图是在执行AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; 之前，寄存器AdcRegs.ADCOFFTRIM.bit.OFFSET_TRIM 的值是11；

执行完AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1;后，寄存器AdcRegs.ADCOFFTRIM.bit.OFFSET_TRIM 的值是0，

只有当从新调用ADC_cal()后，寄存器AdcRegs.ADCOFFTRIM.bit.OFFSET_TRIM才回到11。RESET位功能说明如下：

注意：因为RESET=1后是重置整个ADC，所以在RESET=1以后，不但ADC_cal()要重新调用，ADC所有寄存器都恢复默认状态，同样影响到进芯电子ADC内部1.5v模拟电源使能位需使能的注意事项AdcRegs.ADCTRL1.bit.rsvd1 = 8;

以上问题，在TMS320F28335芯片上同样存在，而在TI的程序示例代码中，因为没有AdcRegs.ADCTRL1.bit.RESET = 1; 且F28335的ADCOFFTRIM值比较集中，所以一般不会注意此问题。