请教LPC2131片内AD采样问题

AD0CR |= 1 << 24;                        // 进行第一次转换
while ((ADDR & 0x80000000) == 0);        // 等待转换结束
AD0CR |= 1 << 24;                        // 再次启动转换
while ((AD0DR & 0x80000000) == 0);        // 等待转换结束                                       
ADC_Data = AD0DR;                        // 读取ADC结果                       
ADC_Data = (ADC_Data >> 6) & 0x3ff;
ADC_Data = ADC_Data * 2475;
ADC_Data = ADC_Data / 1024;                               
ADC_Value=(ADC_Data/1)*30+ADC_Data;//测量0~70V采样，用30K与1K电阻之间分压获得最大值与基准值为2475
ADC_Value=ADC_Value*0.04+ADC_Value;//强制校准
以上CODE中ADC_Value变量为保留采样结果存储器，可是获得的结果数据值波动很大，请教解决办法？

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结果数据值波动很大？
多采样几次，求平均。

一般AD的抖动常见问题集中在硬件部分：

基准源是什么？内部的？外部的？精度怎么样？温飘怎么样？

30K/1K的电阻，分压比这么大，电阻的相对精度计算在内了吗？

看程序是10bit AD吧？最小采样精度是多少？1bit?还是1LSB/2LSB？(5V/1024)作为最小单位，换算成0-70V，差别是多少？在可接受范围内吗？