MSP430F449的MCLK不能选择XT2？？？

最近在一个数据采集器中用到MSP430F449,觉着外部高频晶振的稳定性好，就想利用XT2（4M）作为MCLK，项目做好了，测量结果总是出问题，结果不对，我的采样周期通过定时器控制，调试中发现，采样频率高于一定值之后之后，采样周期并不随定时器设置改变而是固定到一个值上，反复思考，怀疑是XT2根本就没有选择高频晶振，而是选择了默认的DCO频率。索性不用XT2作为MCLK，而直接用DCO，只不过设置寄存器设置DCO的频率为4M左右，再次下载运行，结果正确。
以前论坛里有个老帖也是关于MCLK不能选择XT2的，但后来似乎是解决了。在这次开发中我遇到了类似的情况，又重新怀疑是不是F449的MCLK设置真的存在BUG???

程序片断：
WDTCTL=WDTPW+WDTHOLD; //Stop WDT

IFG2=0; //Clear Interrupt Flag
IFG1=0;
FLL_CTL0|=XCAP18PF;
FLL_CTL1&=~XT2OFF;
do
{
//IFG1&=~OFIFG;
FLL_CTL0&=~XT2OF;
for(int i=0xff;i>0;i--);
}
while((FLL_CTL0&XT2OF)!=0);
FLL_CTL1|=SELM_XT2+SELS; //实际上MCLK并没有真正选择XT2,为什么？



老帖地址：http://bbs.lierda.com/showthread.php...&highlight=tx2

不会吧，从来没碰到过呀，XT2可以做MCLK的。

//******************************************************************************
// MSP-FET430P440 Demo - FLL+ Output 32k xtal + HF xtal + internal DCO
//
// Description This program demostrates using an external 32khz crystal to
// supply the internal ACLK, and using a high speed crystal or resonator to
// supply SMCLK. The MLCK for the CPU is supplied by the XT2. The 32khz
// crystal connects to pins Xin and Xout. The high frequency crystal or
// resonator connects to pins XT2in and XT2out. The DCO clock is generated
// internally and calibrated by the 32khz crystal. The resulting ACLK is
// brought out on I/O pin P1.5, SMCLK is brought out on P1.4, and MCLK is
// brought out on I/O pin P1.1.
// Note:
// External matching capacitors must be added for the high speed crystal or
// resonator as required.
//
// MSP430F449
// -----------------
// /|\ | XIN|-
// | | | 32kHz
// ---|RST XOUT|-
// | |
// | |
// | XT2IN|-
// | | HF XTAL or resonator (add capacitors)
// | XT2OUT|-
// | |
// | P1.5|--> ACLK = 32khz crystal out:32K
// | |
// | P1.4|--> SMCLK = high freq xtal or resonator out:4M
// | |
// | P1.1|--> MCLK = XT2 frequency :1M???
// | |
// | |
//
// B. Merritt
// Texas Instruments Inc.
// October 2003
// Built with IAR Embedded Workbench Version: 1.26B
// January 2004
// Updated for IAR Embedded Workbench Version: 2.21B
//******************************************************************************
#include "msp430x44x.h"

void main(void)
{
unsigned int i;

WDTCTL = WDTPW + WDTHOLD; // stop watchdog timer
FLL_CTL0|= DCOPLUS+XCAP18PF;
FLL_CTL1 = FLL_CTL1 & ~XT2OFF; // clear bit = high freq xtal on

SCFI0 |= FN_4; // x2 DCO freq, 8MHz nominal DCO
SCFQCTL = 120; // (120+1) x 32768 x 2 = 8 MHz
do // loop until flag is clear
{
FLL_CTL0 = FLL_CTL0 & ~XT2OF; // clear high freq oscillator fault flag
for (i = 50000; i; i--); // delay for crystal to start and FLL to lock
}
while (FLL_CTL0 & XT2OF); // test high freq oscillator fault flag

// if flag remained clear then -
FLL_CTL1|= SELS+SELM_XT2; // switch SMCLK = HF xtal
P1DIR = 0x32; // P1.1, P1.4 & P1.5 to outputs
P1SEL = 0x32; // P1.1, P1.4 & P1.5 functions to output
// MCLK, SMCLK & ACLKm
while(1); // loop in place
}


采用上段程序，无论在先调试还是拔下仿真器，MCLK输出始终约为8MHz，即DCO的振荡频率，而不是XT2的4MHz。我在三块不同的电路板上都试过，结果都一样，MCLK只能选择DCO，而不能选择XT2。这是为什么？

程序能运行并不一定代表时钟的运行情况和寄存器设置保持一致，我觉得绝大多数情况下，由于MCLK不被用来作计算程序执行时间情况下，当设置XT2（如4M）为MCLK时，而实际上MCLK选择了DCO（默认1M左右），开发人员一般感觉不出差别。但当MCLK被用来精计时时，如计算AD采样周期，则很明显会看出错误，因为如果选择了XT2（4M）作为MCLK可以执行完的AD采样，而使用了DCO（默认1M）作为MCLK的可能执行不完。
希望回复的各位一定要以实验结果说话，不要以为程序顺利执行就认为时钟设置没问题。

别急，明天我试一下。

// MCLK = SMCLK = xt2=4MHZ
// ACLK = 32768HZ
#include "msp430x44x.h"

void main(void)
{
unsigned int i;

WDTCTL = WDTPW + WDTHOLD;
FLL_CTL0 = XCAP18PF;
FLL_CTL1 = FLL_CTL1 & ~XT2OFF;

do
{
IFG1 &= ~OFIFG;
for (i = 50000; i; i--);
}while (IFG1 & OFIFG);
FLL_CTL1 = SELS+SELM1;
P1DIR = 0x32;
P1SEL = 0x32;
while(1);
}
程序试一下，拔不拔仿真器都可以的MCLK = SMCLK = XT2 = 4MHZ

你的程序中，有OFIFG标志，表示晶体失效了，虽然MCLK选择了XT2，但由于有晶体失效标志，所以MCU有自动的将MCLK切换到了DCO。这正是430的特色，而不是BUG。
在你的程序：
循环检测XT2晶体失效标志后，再增加IFG1 &= ~OFIFG语句，也是可以的。

我的程序中没有用IFG1 &= ~OFIFG语句，而只用FLL_CTL0&=~XT2OF清除XT2失效标志也没什么问题啊。我的XT1运行良好，没必要用IFG1 &= ~OFIFG连XT1一块判断啊，再说有时设计时我就根本不接XT1。另外，如果XT2失效，那程序根本出不了循环，会在循环处不断执行，只有在不加循环判断时，实效时MCLK才能完成自动切换。你还确定是我错了吗？

我确定是你错了，你在仔细看一下用户指南或弄个TI的例程看看。