OLED显示器的DC生产测试中测试系统的性能

Jack_ma 2012-5-23 15:06 楼主

我们曾对采用四个2400的测试系统的测试速度、小电流和小电压测量精度，在一系列不同的测量时间间隔条件下（即不同的NPLC设定参数）进行过特征化测试。NPLC参数与测试时间间隔有如下关系式

测试时间间隔（秒）= 1/60（NPLC参数）

图1表示了2400型源表NPLC值从0.01到1.0时，在10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A量程内的低电流测量性能。测试电流的大小接近每个量程的最大值，而每个测量点则代表100次测量的标准差。测试结果表明，对于每一个很短的积分(integration)时间，即 < 0.1 NPLC，在10-2A、10-3A和10-4A量程下，电流测量的标准差小于满量程的0.005%，而在10-5A和10-6A量程下小于0.08%。在10-5A和10-6A量程下以最高测试速度测量时，±3σ的测试可重复性达到了< 2nA。图2表示了一个以四个2400构建的测试系统的测试吞吐率的测量结果（该结果表示为NPLC设定值的函数）。

图1. 2400源表的电流测量值的标准差与NPLC的关系曲线，其中的测试量程为10-2A、10-3A、10-4A、10-5A和10-6A。

当用于单个像素的开路、短路测量时，2400被配置成一个电流源，然后进行电压测量。PC机通过电流源输出值和电压测量值计算出电阻。这一技术直接使用了2400进行电阻测量，从而缩短了与电阻测量有关的测量时间。测量精度接近或小于0.2%，而这一性能水平对于“合格或不合格”的测试是足够了。它的测试吞吐率为漏电流测试速度的百分之几。

图2. 采用四个2400的OLED特征化系统的测试吞吐率

在对电缆、扫描卡和夹具的设计中使用保护，可大大降低漏电流，而且能够为基于6517A型静电计和7158、7058型扫描卡的系统，实现低电流的测量提供支持。加保护的信号通路缩短了与低电流测量所需的较长稳定时间，这进而又缩短了测试时间。即使采用了保护电路，6517A的测量速度仍比不上2400，所以它的吞吐率将会低一些。