光耦测试之频率篇
光耦全称光耦合器(opticalcoupler),它是以光为媒介来传输电信号的器件,输入与输出之间除了光束外无其它任何连接,完全隔离。在数字电路应用广泛。
根据输出类型一般有如下几类:晶体管输出、高速集成电路输出、三端双向可控硅输出和光控继电器。在电路设计中以晶体管输出和高速集成电路输出使用居多,本次测试的光耦选用这两类为样品。
光耦的响应频率与光耦的打开关闭速度即上升沿与下降沿时间有关,其中上升沿与光耦的输入电流有关,输入电流越大,上升沿越短。下降沿与光耦的输出负载有关,负载越重电流释放越快,下降沿也越长。
本测试使用的电路如下:
图1
输入信号由FPGA提供,高电平3.3V,输出为24V系统。考虑到光耦输入很多是由单片机之类的提供,其驱动电流有限,最大的也就十几毫安,因此测试是选用10mA的输入电流,因不同光耦的压降不同,需通过可调电位器R2进行微调。一般晶体管输出(不包括达林顿输出,关于该类型光耦后文有讨论)的光耦输出电流可到50mA,在测试中我们在输出端串上一只1k的电阻,然后施加24V的电压,此时的负载电流约23mA,接近标称值的一半。
测试样品:TLP521-1,PS2801-1,PS2805-1,TLP127,TLP181,HCPL0601
测试使用频率分档:40M、20M、10M、8M、6.15M、4M、2M、1M、800K、615K、400K、200K、100K、80K、61.5K、40K、20K、10K、8K、6.15K、4K、2K、1K
测试结果:
光耦型号
| 通过频率
| 上升时间
| 下降时间
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TLP521-1
| 61.5KHz
| 3us
| 4us
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PS2801-1
| 40KHz
| 5us
| 6us
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PS2805-1
| 40KHz
| 3us
| 5us
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TLP127
| 2KHz
| 1us
| 100us
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TLP181
| 61.5KHz
| 2us
| 3us
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HCPL0603
| 8MHz
| 36ns
| 6ns
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