多功能测量表的第二部分就是频率测量。先试试最简单的测频法，就是定时固定时间（这里先选用了100ms），对被测信号计数。为了方便起见，集中测试mcu部分，被测信号选用了0-5v的方波。这里的计数考虑了两种方案，方案一是用外中断，这也是本来最先考虑的方案，这样可以保留另一路定时器给后续拓展等精度测量用。方案二是采用定时器的外部事件计数方案。这个方案不需要外中断，但是两路定时器全部被占用了。具体采用何种方案，还要测试下来才知道。
首先使用timer0，定时100ms，用外中断INTP1（P0.0）对输入的方波计数。Cg配置如下：
在高频段，测量精度不错。0.2%左右的误差。在低频段，误差较大。一般100以下精度就开始快速下降（理论分析误差要大于1%）。但是可能受中断处理速度影响（中断里面就是对cnt++），高频测量高限在650KHz左右（对于cnt，使用了long 和int，int能上到800Khz左右，但是这是在对int型不做溢出处理得到的，如果处理溢出，可能就不行了）。
可能要考虑使用外部事件计数，这样可测量的频率大概能到主频率的一半，如果选20M，也就是可以工作到10M。
然后试了下方案二，使用timer0定时100ms，在TI01（P0.4）口输入方波，使用外部事件计数。方案二的CG配置。
非常帅，可以上到9.9M。当然，低频段的误差还是比较大的。测试结果在几百hz以上，误差小于1%，100Hz以下，误差变大。这和方案一一样，受原理影响较大。
不过从测试数据中可以发现，高频段并没有因为频率变大而误差变小，这可能是因为频率高时，stop ch1是指令执行时间增加的计数也较多。
因此综合考虑，决定用方案二测频，测量范围要大很多。至于低频段的误差问题，有两种解决方式。一个是使用更长的时间闸门，比如500ms，可以使低频分辨率达到2Hz；一种是在低频段采用测周法，或者整个频段采用等精度法。后者要消耗更多的外设（定时器用完了，可能还要加外中断）和IO口资源，考虑到后面还要做显示需要IO口，因此此处简单处理使用500ms时间闸门的方法，取得测量速度和精度之间的折中。
注：以上测量结果通过变量窗口获得。
下面来捉bug，CG在生成外部事件计数时，默认是没法开启P0.4的数字功能的，（选了数字口，tau里面就不能选外部计数功能）选了外部计数，P04就变成了unused ，而In是不能选的了。
因此需要自己来一句PMC0 &=~0x10;看起来很小，可是这是个很重的概念错误，希望后面版本能够改进。如果没有这一句，P0.4口是没有办法对外部方波计数的。
最后附上代码供大家参考，后缀1和2代表两种方案
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