AECR
½规厚膜电阻
符合AEC-Q200认证，高可靠性，高稳定性，耐硫化
电性½稳定，适应回流焊和波峰焊，符合ROHS指令要求
选择一款符合
AEC
-
Q200认证的厚膜贴片电阻
驾驶和生½安全息息相关，被动元件½½级品质认证（AEC-Q200）要求每个
零件½要达到最高的质量和可靠性，甚至接近于零的失效率。以美军标为参考
蓝本，AEC-Q200规定了电阻认证需要进行的一些可靠性试验，其中包括寿½
试验，温度循环，偏高湿度，高温存储，高温工½，湿度抵抗等等。½规级别
的厚膜电阻除了可以用于各类½辆外，也可以用于所有高可靠性要求的场合，
例如医疗产品，电力设备，铁路通讯，仪器仪表等。
规格及尺寸（毫米mm）
L
T
D
W
系列号
AECR0402
AECR0603
AECR0805
AECR1206
AECR1210
AECR2010
AECR2512
额定功率
70°C
0.063W
0.100W
0.125W
0.250W
0.330W
0.750W
1.000W
阻值范围
1R-10M
1R-10M
1R-10M
1R-10M
1R-10M
1R-10M
1R-10M
可选精度 %
±1(F)
±1(F)
±1(F)
±1(F)
±1(F)
±1(F)
±1(F)
极限电压
50V
50V
150V
200V
200V
200V
200V
过½½电压
100V
100V
300V
400V
400V
400V
400V
阻值标准
E24
，
E96
E24
，
E96
E24
，
E96
E24
，
E96
E24
，
E96
E24
，
E96
E24
，
E96
尺寸(mm)
L
1.00±0.1
1.60±0.15
2.00±0.2
3.20±0.2
3.20±0.2
5.00±0.2
6.40±0.2
W
0.5±0.1
0.8±0.15
1.25±0.2
1.6±0.2
2.5±0.2
2.5±0.2
3.2±0.2
T
0.35±0.1
0.45±0.1
0.55±0.1
0.55±0.1
0.55±0.1
0.55±0.1
0.55±0.1
D
0.25±0.1
0.30±0.1
0.40±0.1
0.50±0.1
0.50±0.1
0.60±0.1
0.60±0.1
温度系数
-55°C
+70°C
阻值范围
温度系数
1R-10R
±250ppm(T)
>10R-1M
±100ppm(K)
>1M-10M
额定功率%
±250ppm(T)
100
75
50
25
0
-75
标准包装
标准尺寸
包装数量
0402
0603
0805
1206
1210
2010
2512
10000/盘 5000/盘 5000/盘
5000/盘 5000/盘
4000/盘 4000/盘
-50
-25
0
+25
+50 +75 +100 +125 +150 +175
环境温度°C
选型表
选型示例：AECR0805F10R0K9（AECR0805
±1% 10R 100ppm)
A
E
C
R
0
8
0
5
F
1
0
R
0
K
9
系列号
AECR
尺寸
0402
1206
0603
1210
0805
2010
2512
精度
F=± 1%
阻值
1R00=1R
1K00=1000R
1M00=1000000R
10M0=10000000R
温飘
K=±100ppm
T=±250ppm
包装
9=标准品
A, 跨接线电阻阻值代码0000，精度代码为F(阻值小于10mΩ)，例如：AECR2512F0000K9 (2512 0Ω 2A)；
B, 0402,0603尺寸的跨接电阻额定电流为1A，0805尺寸以上额定电流为2A，最大过½½电流为额定电流的1倍；
C, 储存条件为5 °C -30 °C，相对湿度30%-70%。
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01
AECR
½规厚膜电阻
性½指标
项目
高温存储
温度循环
高温高湿
负½½寿½
耐溶剂性
机械冲击
振动
耐焊接热
热冲击
静电放电
可焊性
温度系数
可燃性
基板弯曲试验
端子强度
阻燃性
绝缘电阻
耐电压
短时过½½
½温负½½
抗硫化
标准
无可见损伤，
△
R±1%
Maximum
无可见损伤，
△
R±0.5%
Maximum
无可见损伤，
△
R±3%
Maximum
无可见损伤，
△
R±1%
Maximum
标志清晰，无可见损伤
无可见损伤，
△
R±1%
Maximum
无可见损伤，
△
R±1%
Maximum
无可见损伤，
△
R±0.5%
Maximum
无可见损伤，
△
R±0.5%
Maximum
无可见损伤，
△
R±3%
Maximum
无可见损伤，可焊面积
95% Minimum
在规定值内
不完全燃½，薄垫纸未引燃，松木板未烤焦
无可见损伤，
△
R±0.5%
Maximum
无可见损伤，
△
R±0.5%
Maximum
不可燃
1000M, Minimum
无击穿或飞弧
无可见损伤，
△
R±1%
Maximum
无可见损伤，
△
R±1%
Maximum
无可见损伤，
△
R±5%
Maximum
测试方法
AEC-Q200 TEST 3
/
MIL-STD-202 Method 108, 1000
小时 @
125
°C, 不加½½
AEC-Q200 TEST 4
/
JESD22 Method JA-104, -55
°C 30分钟 ~常温
<1
分钟~+
125°C
30分钟,
1000
个循环
AEC-Q200 TEST 7
/
MIL-STD-202 Method 103, 85
°C, 85%RH, 加½½不½于
10
%额定功率，
1000
小时
AEC-Q200 TEST 8
/
MIL-STD-202 Method 108, 1000
小时 @
125
°C, 额定电压，通
90
分钟，断
30
分钟
AEC-Q200TEST 12
/
MIL-STD-202 Method 215,
浸入溶剂三分钟后擦十次，三种溶剂三个循环，清洗后室温干燥
AEC-Q200 TEST 13
/
MIL-STD-202 Method 213,
正半玄波，峰值加速度100
g's ,
脉冲持续6ms,三½六向各3次
AEC-Q200 TEST 14
/
MIL-STD-202 Method 204, 10-2KHz, 5 g's , 20分钟一个循环，X.Y.Z三个方向各12个循环
AEC-Q200 TEST 15
/
MIL-STD-202 Method 210, 270
°C锡½, 保持
10
秒
AEC-Q200 TEST 16
/
MIL-STD-202 Method 107, -55
°C
15
分钟 ~常温
<20
秒~+
155°C 15
分钟, 300个循环
AEC-Q200TEST 17
/
AEC-Q200-002
人½模式，两次放电，正负极各一次
AEC-Q200 TEST 18
/
IEC 60115-1 4.17, 245
°C 锡½，保持三秒
AEC-Q200 TEST 19
/
IEC 60115-1 4.8
, 测量点-55 °C和+
125°C,
参考点+
20°C
AEC-Q200 TEST 20
/
UL-94 V-0
或
V-1可接受，不需要电气测试
AEC-Q200TEST 21
/
AEC-Q200-005, 0805以下5mm, 1206和1210 4mm, 2010和2512 2mm,
保持时间60s
AEC-Q200 TEST 22/ AEC-Q200-006,
½加力
17.7N,
保持60秒
AEC-Q200 TEST 24
/
AEC-Q200-001, 9-32VDC (钳½电流高达500A),
按1.0VDC递增， 每种电压等级最少1小时
IEC 60115 -1 4.6,
在电极于基片间½加100V的直流电压，保持60秒，然后测绝缘电阻值
IEC 60115-1 4.7,在电极于基片间以大约100V/s的速度½加有效值为最大过½½电压的交流电压，保持60秒
IEC 60115-1 4.13, 2.5倍额定电压，5秒
IEC 60115-1 4.36, -55
°C, 无负½½一小时，额定电压负½½
45
分钟，无负½½
15
分钟
切削油，硫磺粉，105 °C 放½500小时
推荐焊盘尺寸图
推荐焊盘尺寸（mm）
型号
0402
A
0.45
0.80
1.05
1.90
2.00
3.50
4.80
B
1.45
2.50
3.25
4.50
4.60
6.50
7.80
C
0.60
0.95
1.40
1.75
2.70
2.70
3.40
C
0603
0805
A
B
1206
1210
2010
2512
推荐回流焊曲线
（℃）
250
推荐波峰焊曲线
（℃）
300
260℃ max
200
250
200
Temperature
150
150℃~180
℃
:
60s~120s
Ramp up3
℃
/s
（
max
）
230℃~250
℃
:
20s~50s
Ramp down 6
℃
/s
（
max
）
Temperature
150
Dip time 3s~6s
100
80℃~130
℃
:
40s~60s
100
50
50
0
0
Time
（
s
）
Time
（
s
）
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DSP 与 ARM 处理器
