VACUU M SCHM ELZE
DATENBLATT
/ Specification
Sach Nr.:
Item no.:
T60405-A6166-X004
(ZKB616/604)
Datum:
Date:
K-Nr.:
K-no.:
Speicherdrossel / Storage Choke
Typenelement / Standard type
General tolerances
25,4
15,24
4
1
15.10.2007
1
von
of
Kunde:
Customer
Kd. Sach Nr.:
Customers part no.:
Seite
Page
1
Maßbild (mm):
Mechanical outline
Freimaßtoleranz DIN ISO 2768-c
Befestigungsbohrung für
Blechschraube BZ 2,9x6,5
DIN 7971
(for tin screws 2,9x6,5 DIN 7971)
Anschlüsse:
Connections:
Cu-verz.∅ 1,12 mm
Cu-tinned
ó
15,24
22
Toleranz der Stiftabstände
ñ
0,3mm
(Tolerances grid distance)
5
ó
36
8
F DC
DC=Date Code
F=Factory
Beschriftung:
marking
ó
40
6166-X
004 F DC
0,8
3,5
±0,5
29,1
21
Anschlußschema:
Schematic diagram
Betriebsdaten/Charakteristische Daten (Richtwerte):
Operational data/characteristic data (nominal values):
1
4
I
N
=
I
N
=
.
∆I
=
4A
8A
L = 165
µH
(N1
+
N2 in Reihe/
series
)
L = 41µH
(N1+N2 parallel)
ι ≥
0,25
N1
N2
0,2
•
I
N
f
≤
150 kHz
5
8
ü=1
Inspection
:
1
Umgebungstemperatur/
ambient temperature
: -40 °C... +60 °C
Lagertemperatur/
storage temperature
:
-40 °C... +125 °C
Prüfung:
(V: 100%-Test; AQL...: DIN ISO 2859-Teil1)
1) (V)
M3014:
U
p,eff
= 500 V,
2 s,
N1 gegen/vs. N2 (Stift 1/5 gegen/vs. 4/8)
2) (AQL 0,65) M3214:
3) (AQL 1/S4)
4)
M3029:
L = 165µH + 25%-10%, I
DC
= 4A,
f = 100 kHz,
U
AC,eff
= 250mV
(N1+N2 in Reihe/
series
)
alternative/alternative
f = 10 kHz, I
AC,eff
= 10 mA
R
Cu1
=R
Cu2
≤
24 mΩ
Lötbarkeitstest nach 1.1
solderability test acc. 1.1
5) (AQL 1/S4) M3200
Mechanische Prüfung
Mechanical test
Messungen nach Temperaturangleich der Prüflinge an Raumtemperatur
Measurements after temperature balance of the test samples at room temperature
Weitere Vorschriften:
Applicable documents:
Datum
15.10.07
25.08.97
Hrsg.:
editor
Anschlußträger:
Terminal : UL - listed
UL - gelistet
Name
Lo
Lo.
Index
80
80
Änderung
DB standardisiert/standardised, Produktgruppe korrigiert/product group corrected. Lapidar/Insignificant.
DB aktualisiert.
KB-FB FT
Bearb:
Lo.
KB-PM B:Gör.
freig.: Heu.
released
designer
check
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