测量并抑制存储器件中的软误差软误差只不过是半导体器件中无法有意再生的干扰即数据丢失这些干扰是随机的往往不是灾难性的一般不会毁坏器件它们是由那些不受设计师控制的外部因素所引起的包括粒子宇宙射线和热中子许多系统能够容忍一定程度的软误差例如如果您是为音频视频或静止成像系统设计一个预压缩捕获缓冲器或后置解压缩重放缓冲器则一个偶然出现的缺陷位可能不会被察觉而且对用户而言也许并不重要然而当存储元件在关键任务应用中负责控制系统的功能时软误差的不良影响就会严重得多不仅会损坏数据而且还有可能导致功能缺失和关键系统故障本文将讨论产生这些软误差的根源不同的测量技术以及抵御这些软误差的方法.