本文首先介绍了芯片行业常用的测试方法和ATE（ Automatic Test Equipment)测试的一般原理。根据ADP2381稳压芯片的系统构架和特点给出了该芯片的主要测试指标。结合ATE测试的技术优势，基于软件测试技术，以ADP2381过压保护功能为实例，提出了一种基于ATE测试系统的整体设计方案。测试结果表明该ATE测试系统能很好地完成ADP2381芯片过压保护功能的完好性测试。

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稳压芯片的过压保护 测试研究 2 3 4 5 016 7 8 9 AB C D E 6 F G B H I J K L M N O 1 P Q 1 R S T U V W X Y K C Z L W a b c TU V W b c TU 0 1 1 0 7 78 7 91 9 0 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 3......