集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。CMOS 器件进入超深亚微米阶段, 集成电路继续向高集成度、高速度、低功耗发展, 使得IC 在测试和可测试性设计上都面临新的挑战。重点研究了纯数字信号、混合信号和片上系统测试的一些问题和相关标准, 包括IEEE 11491121990 到IEEE 11491622003 , IEEE 1450 , IEEE 1500 , IEEE2ISTO Nexus 5001 等测试标准。总结了集成电路测试标准的特点和最新进展, 分析了这些标准在实际应用中存在的一些问题及其局限性, 并对今后集成电路测试技术标准的发展给出了预测。