扫描设计是一种广泛采用的可测性设计方法。在采用扫描设计的电路中，扫描单元及其控制电路芯片面积可能占到30%，引起的故障总数可能占到50%。因此扫描链的诊断对于逻辑诊断具有重要的意义。本文综述了在采用扫描结构的集成电路中，扫描链的诊断方法。一类方法采用了可诊断性设计（Design For Diagnosis， DFD），类似于可测试性设计。可诊断设计在扫描结构当中加入额外的硬件电路，以提高扫描链的可观测性或者可控性。另一类是软件诊断方法，通过施加诊断向量观察故障输出，利用算法推测故障位置。最后介绍了一项由本实验室提出的采用了可诊断设计的扫描链结构，它不仅可以精确地诊断扫描链故障，还可以在容忍扫描链单固定型故障的情况下进行组合逻辑电路的诊断。