文档简介
随着soc设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展，存储器的品质直接影响着soc的整体性能的提高，故对于存储器测试显得尤为重要。现在存在的一些存储器测试方法对故障的覆盖率都不能达到100%。本文分析了现有的各种March算法，提出了一种新的存储器测试控制器设计方法，它综合调配各种March算法，使测试的故障覆盖率接近100%，并且硬件开销很小。
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