本期在线研讨会“现代功率半导体器件的测试需要使用现代曲线追踪仪”介绍了曲线追踪仪及其在测试功率半导体器件方面的作用。还介绍了当前市场对功率器件的需求以及现代器件如何迫使传统曲线追踪仪超越其测量极限。研讨会讨论了如何用SMU取代传统曲线追踪仪而且为什么SMU是测试当今器件的最佳仪器。最后，研讨会将讨论如何将数台SMU搭建成为现代参数曲线追踪仪并实现I-V测量和高压C-V测量。 通过参加此研讨会，您将学习并理解：— 传统曲线追踪仪在测试功率半导体器件的作用— 市场对现代功率半导体器件的需求— 为什么传统曲线追踪仪在测试当今器件上表现不足，而且为什么SMU是取代曲线追踪仪的最佳测量仪器。— 如何将SMU搭建为现代参数曲线追踪仪— 如何用参数曲线追踪仪进行高压C-V测量Testing Modern Power SemiconductorDevices Requires a Modern Curve TracerSteve Guo 手机： 13661111444Applications Engineer 邮箱：steve.guo@keithley.com A G R E A T E R M E A S U R E O F C O N F I D E N C EAgenda Curve Tracer Background Advancement in Power Semiconductor Devices The Problem with Curve Tracers A Viable Alternative Parametric Curve Tracers 2012 Keithley Instruments, Inc.Curve Tracer BackgroundA G R E A T E R M E A S U R E O F C O N F I D E N C EWhat is a Curve Tracer?Specialized instrument designed for characterizing semiconductor devices Test Fixture Power Suppl……