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利用过采样技术提高ADC测量分辨率rar
1星 发布者: solarelec

2014-03-05 | 1积分 | 224.23KB |  5 次下载

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文档简介
标签: 利用过采样技术提高ADC测量分辨率

利用过采样技术提高ADC测量分辨率

提出了用“过采样”技术使在有用的测量频带内的信噪比得到改善, 从而提高ADC 测量的分辨率。并利用Matlab 对其结论进行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以实现,结果表明信噪比和测量分辨率明显提高。

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