文档简介
介绍了对新型发光二极管外延片光致发光系统的改进，以VC.net 为语言工具编制软件，对发光二极管外延片关键性能参数的测量结果进行分析。增加了薄膜厚度测量的性能，完善了测量系统的功能。基于PC 的检测系统智能化、自动化，实现了对LED 外延片的无损、快速、准确的在线扫描测量。
评论
加载更多
推荐下载
查看更多
精选文集
相关视频
-
直播回放： Keysight 小探头，大学问，别让探头拖累你的测试结果！
-
控制系统仿真与CAD
-
MIT 6.622 Power Electronics
-
直播回放：基于英飞凌AIROC™ CYW20829低功耗蓝牙芯片的无线组网解决方案
-
直播回放：ADI & WT·世健MCU痛点问题探索季：MCU应用难题全力击破！
-
Soc Design Lab - NYCU 2023
推荐帖子
精选电路图
-
家用电源无载自动断电装置的设计与制作
-
PIC单片机控制的遥控防盗报警器电路
-
短波AM发射器电路设计图
-
开关电源的基本组成及工作原理
-
用NE555制作定时器
-
基于TDA2003的简单低功耗汽车立体声放大器电路
