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2018年03月19日 | MVG将携5G和IoT测试解决方案闪耀2018 EDI CON
2018-03-19 来源：集微网
天线测试测量系统的制造生产厂商法国Microwave Vision Group（以下简称MVG），在2018年3月20日至22日于北京国家会议中心召开的电子设计创新大会(EDI CON China 2018)期间，将举办物联网（IoT）设备测试研讨会，并在主办方举办的5G座谈会上就毫米波与OTA测试发表技术演讲。与此同时，MVG还将在展台举办虚拟现实的体验活动，让现场观众能实地一睹MVG为波兰著名雷达和国防设备生产商Pitradwar 打造的3120立方的巨型暗室，并通过VR视频，了解、体验MVG的技术实力与成果。
当下，物联网的发展给所有的行业和市场都带来了冲击和影响。对于物联网设备而言，主要测试挑战就在于如何确保无线连接性能如预期般运作，因为相同的天线应用在不同的产品上，其性能也会不同。天线性能是需要进行优化和控制的主要因素。同时，掌握无线连接技术的关键也在于了解专为物联网优化的新协议，如NB-IoT、LoRa、Sigfox、LTE-M以及5G，从而能针对不同的产品和技术要求运用正确的工具和测试方法。
针对物联网设备测试，MVG已推出一系列的测试产品。MVG将在此次展会期间举办研讨会，以“如何选择协议和OTA测试解决方案，成功实现物联网设备中的无线连接”为主题，介绍物联网的协议选择，并针对不同协议和产品类别（从700MHz到18GHz, 甚至50 GHz毫米波频段）以及贯穿产品生命周期阶段的测试解决方案，其中，会针对MiniLab I 6 GHz OTA进行详细介绍。
另外，在此次展会期间，由微波杂志主办的5G毫米波OTA测试专家论坛将与听众互动，共同探讨如何测量3D窄波束传播环境、其特定挑战和潜在解决方案。MVG亚太地区技术总监Mathieu Mercier将就5G毫米波OTA测试发表技术演讲，介绍毫米波测试中使用的NF和FF前沿技术，并就OTA测试中的未来进一步进展的方向发表看法。（校对/范蓉）
史海拾趣
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