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2019年10月14日 | NI半导体测试系统(STS)软件可降低测试成本，提高测试效率
2019-10-14 来源：EEWORLD
美国国家仪器（National Instruments，简称“NI”）是一家软件定义平台的提供商，其平台有助于加速自动化测试和自动化测量系统的开发和性能提升，该公司于今日推出了STS软件的最新增强功能，这些功能可显著提升NI半导体测试系统的编程和调试体验，并大大提高测试执行速度、并行测试效率和整体设备效率。
由于市场压力不断增加，半导体生产测试工程师正在力图加快新测试程序的开发、调试和部署进程，以快速投入量产。对于尚未拥有测试系统的用户，STS软件2019提供了更优化的线下体验来帮助他们更快速开发测试程序。其他优化包括简化的驱动体验，便于编程重复的仪器，以及简化的数字扫描支持。另外，改进调试体验后，用户只需选择相关待测设备(DUT)的site和引脚，即可在multi-site应用中快速进行交互式测量和调试自动化测试。
同样，不断增加的市场压力也迫使半导体运营和制造团队不断优化半导体封装和测试设备，以提高盈利能力。STS软件2019通过优化仪器驱动来加快测试执行时间，并强化线程管理以提高并行测试效率，进而提高测试吞吐量。此外，由于制造团队可以在不同批次之间切换测试系统配置，从而大幅缩短了软件转换时间，进而帮助STS客户提高利用率和设备整体效率。
“半导体公司不断受到缩短上市时间和降低测试成本的压力。美国国家仪器已经扩展了NI半导体测试系统的功能，同时显著提高了该系统的并行功能、速度和效率，”NI高级副总裁兼半导体业务总经理Ritu Favre说道，“STS软件2019版的新增强化功能可帮助客户加速上市并降低成本，为他们创造了巨大价值。”
史海拾趣
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本帖最后由 paulhyde 于 2014-9-15 09:40 编辑 2009年全国大学生电子设计竞赛总结全国大学生电子设计竞赛是教育部高等教育司及信息产业部人事司负责领导的全国竞赛，，是面向大学生的群众性科技活动，目的在于推动全国普通高等学校促进信息与电子 ...… 查看全部问答＞ |