Instrospect推出全球首个 GDDR7 显存测试系统

3 月 28 日消息，Introspect Technology 宣布推出全球首个 GDDR7 显存测试系统，支持大规模并行、72 通道、40 Gbps PAM3 ATE-on-Bench 测试，号称可为显存和 GPU 制造商提供最快的上市速度。

Introspect 已经交付了 M5512 GDDR7 显存测试系统，号称是世界上第一个用于测试 JEDEC 全新 JESD239 图形双倍数据速率 （GDDR7） SGRAM 规范的商业解决方案。

该系统使图形显存工程师、GPU 设计工程师、显存和 GPU 领域的产品工程师以及系统集成商能够快速启动新的 GDDR7 显存设备、调试协议错误、表征信号完整性，并执行详细的显存读 / 写功能压力测试，而无需任何其他工具。

固态技术协会 JEDEC 于 3 月 6 日正式发布 JESD239 GDDR7 显存标准，JESD239 GDDR7 提供的带宽是 GDDR6 的两倍，每台设备最高可达 192 GB/s。

JESD239 GDDR7 是第一个使用脉幅调制（Pulse Amplitude Modulation，PAM）接口进行高频操作的 JEDEC 标准 DRAM。其 PAM3 接口提高了高频操作的信噪比（SNR），同时提高了能源效率。通过使用 3 个级别（+1，0，-1）在 2 个循环上传输 3 个比特，而传统的 NRZ（不归零）接口在 2 个周期上传输 2 个比特，PAM3 提供了更高的每循环数据传输速率，从而提高了性能。

M5512 GDDR7 显存测试系统是一款台式测试和测量仪器，它包含 72 个高性能引脚，每个引脚都能够在 PAM3 模式下以 40 Gbps 的速度运行。每个引脚都包含用于执行读写操作的双向电路，并且每个引脚都包含一整套模拟表征功能。

AMD、美光、英伟达、三星、SK 海力士都对 GDDR7 标准表示了支持。三星在英伟达 GTC 2024 大会上展示 GDDR7 显存之后，型号为 K4VAF325ZC-SC32 与 K4VAF325ZC-SC28 的两款显存颗粒现已上线三星半导体官网，分别达 28Gbps / 32Gbps 速率，单颗容量 16Gb。

SK 海力士则表示正在研发速度更快的显存模组，目标定在了更高的 40Gbps。

预计将在年底上市的英伟达 RTX 50 系列显卡将是首批采用 GDDR7 显存的产品。