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10月17日 |泰克 “芯”朋友见面大会-长沙站

2024-10-11
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“芯”朋友见面大会

本次研讨会,我们将从测试角度看半导体的整条产业链,从材料器件的测试分析、功率半导体器件评估与可靠性测试再到模拟芯片标定的测试误区......同时,也将和您分享基于第三代功率半导体的电源设计及产品开发全流程测试方案,并进行演示。泰克诚邀“芯“朋友亲临现场,现场感受泰克产品带来的高效测试。

立即扫码报名,现场听众均有机会参与抽奖活动!

会议日程安排

时间:2024年10月17日 13:30-17:10

地点:长沙北辰洲际酒店 四楼 五洲宴会厅3

(湖南省长沙市开福区湘江北路1500号)

会议日程

13:30

-

14:00

签到


14:00

-

14:10

开场

14:10

-

14:40

半导体材料器件测试分析

赵凯

泰克技术专家

14:40

-

15:10

功率半导体器件动态测试与可靠性测试——测试原理,方法和设备

王芳芳

泰克技术专家

15:10

-

15:40

SiC MOSFET动态特性测试的最后一道坎:测量点间寄生参数

高远 特约嘉宾

泰科天润应用测试中心总监

15:40

-

16:00

茶歇


16:00

-

16:30

模拟芯片标定的测试误区

叶昊生

泰克技术专家

16:30

-

17:00

基于第三代功率半导体的电源设计及产品开发全流程测试方秦

黄正峰

泰克技术专家

17:00

-

17:10

抽奖


精美礼品 等您来领!

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