发布时间：2011-08-28

1 FAIMS技术 　　高场非对称波形离子迁移谱（FAIMS）技术 是建立在Mason和McDaniel实验观察的基础上，他们发现离子的迁移率系数K受所施加的电场强度影响。在低电场条件下，离子的迁移率系数K与电场强度无关；当电场强度高到一定值( 约11 000 V/㎝)以后，离子的迁移率系数K就会以一种非线性的方式随电场强度而变化，这种变化对于每一离子种类是特定的，如图1...