发布时间：2015-03-19

引言 随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中越来越广泛的使用，可测性设计(DFT)的功耗问题引起了VLSI设计者越来越多的关注。因为在测试模式下电路的功耗要远远高于正常模式，必将带来如电池寿命、芯片封装、可靠性等一系列问题。随着集成电路的发展，内建自测试(BIST)因为具备了诸多优越性能(如降低测试对自动测试设备在性能和成本上的要求、可以进行At speed测试及有助于保...

发布时间：2013-07-24

        引言 　　大多数IC设计工程师都了解数字BIST的工作原理。它用一个LFSR（线性反馈移位寄存器）生成伪随机的位模式，并通过临时配置成串行移位寄存器的触发器，将这个位模式加到待测电路上。数字BIST亦用相同的触发器捕获响应，将移出的结果压缩成一个数字标志，再将其与一个正确的标志作逐位对比。尽管工业逻辑BIST的细节要更复杂，但基本原理仍适用于多时钟域、多周...

发布时间：2013-06-15

引言 随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中越来越广泛的使用，可测性设计(DFT)的功耗问题引起了VLSI设计者越来越多的关注。因为在测试模式下电路的功耗要远远高于正常模式，必将带来如电池寿命、芯片封装、可靠性等一系列问题。随着集成电路的发展，内建自测试(BIST)因为具备了诸多优越性能(如降低测试对自动测试设备在性能和成本上的要求、可以进行At—speed测试及有助于保...

发布时间：2012-03-18

    引言     随着便携式设备和无线通讯系统在现实生活中越来越广泛的使用，可测性设计(DFT)的功耗问题引起了VLSI设计者越来越多的关注。因为在测试模式下电路的功耗要远远高于正常模式，必将带来如电池寿命、芯片封装、可靠性等一系列问题。随着集成电路的发展，内建自测试(BIST)因为具备了诸多优越性能(如降低测试对自动测试设备在性能和成本上的要求、可以进行At—speed...