发布时间：2022-12-08

记者日前从安徽省量子计算工程研究中心获悉，国内首个专用于量子芯片生产的无损探针电学测量平台在中国首条量子芯片生产线投入使用，量子芯片生产有了“火眼金睛”。 据了解，无损探针电学测量平台由合肥本源量子计算科技有限责任公司完全自主研发，最小测量范围缩至微米级，探针造成的薄膜伤痕直径最小在1微米以内，测量过程不影响超导量子比特相干性能，具备高稳定性和高运动精度的优势。 “无...

发布时间：2022-04-11

材料性质的研究是当代材料科学的重要一环，所谓材料的性质是指对材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料对电、磁、光、热、机械载荷的反应。源表SMU 在当代材料科学研究中，起到举足轻重的作用，选择适合某类材料电性能测试的SMU，如何降低测试误差，测试中应当注意什么，这些问题都需要重点关注。 前言 材料性质的研究是当代材料科学的重要一环，所谓材料的性质是指对材料功能特性和...

发布时间：2021-12-23

近日，合肥欣奕华自主研发的首台Mini-LED电学检测设备正式交付客户，助力Mini-LED显示行业良率提升。 合肥欣奕华从提升基板线路良率出发，其自主研发的Mini-LED线路电学检测设备能实现定位精度达±5微米。其精度高，速度也快，通过快速多通道扫描式检测系统，设备的单点测试速度可达毫秒级，实现单次检测近万个点位。目前，企业正在研发另一款Mini-LED相关电学检测设...

发布时间：2021-03-15

前言：材料性质的研究是当代材料科学的重要一环，所谓材料的性质是指对材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料对电、磁、光、热、机械载荷的反应。源表SMU 在当代材料科学研究中，起到举足轻重的作用，选择适合某类材料电性能测试的SMU，如何降低测试误差，测试中应当注意什么，这些问题都需要重点关注。泰克吉时利的品牌在全球许多学科工程师和科学家中享有盛誉，其高精度源表（SMU）、万用...

发布时间：2021-03-05

前言：材料性质的研究是当代材料科学的重要一环，所谓材料的性质是指对材料功能特性和效用的定量度量和描述，即材料对电、磁、光、热、机械载荷的反应。源表SMU 在当代材料科学研究中，起到举足轻重的作用，选择适合某类材料电性能测试的SMU，如何降低测试误差，测试中应当注意什么，这些问题都需要重点关注。泰克吉时利的品牌在全球许多学科工程师和科学家中享有盛誉，其高精度源表（SMU）、万用...

发布时间：2019-10-11

问题： 如何测量不同光源的光强度？ 回答： 拿一只红光、绿光、蓝光LED。 光强度的确定可能至关重要，例如，在设计房间的照明或准备拍摄照片时。在物联网(IoT)时代，确定光强度对于所谓智能农业也有着重要作用。在这种情况下，一项关键任务是监测和控制重要的植物参数，以促进植物最好地生长并加速光合作用。因此，光是最重要的因素之一。大多数植物通常吸收可见光谱中红光、...

发布时间：2017-11-08

再提经济学家吴晓波老师那篇关于“马桶盖”的文章，可谓是对于“消费升级”、“高端家电”的老生常谈。但即便是在刚刚结束的十九大，“高端”和“品质”也是蕴含当中的主旋律，会上强调，当今中国社会的主要矛盾已经转化为，人民日益增长的美好生活需要和不平衡不充分的发展之间的矛盾。这意味着，中国消费者需要高端和高品质产品，而对于家电行业而言这个诉求更为突出。 　　时间退回到一个月前，连续8...

发布时间：2015-10-14

近日，由国家国防科技工业局科技与质量司指导，国防科技工业第二计量测试研究中心、中国空间技术研究院西安分院、中国宇航学会计量与测试专业委员会、URSI中国国家委员会电磁计量专业委员会、计量与校准技术重点实验室、《宇航计测技术》编辑部主办，国防科技工业第二计量测试研究中心和中国空间技术研究院西安分院联合承办的 2015国防无线电&电学计量与测试学术交流会 在陕西省西安市顺利召开。...

发布时间：2013-07-16

Cadence 可支持电学感知设计（EAD）的版图套件，（EAD）在版图绘制过程中可实现实时寄生参数提取，从而为工程师们节省从数天到数周不等的设计时间。 新产品和方法学减少了进行多次设计反复和“过度设计”的需要，从而提高了性能，减小了面积。 【中国，2013年7月15日】—— 全球电子设计创新领先企业Cadence设计系统公司(NASDAQ:CDNS) 今天宣布推出用于实...

发布时间：2013-01-30

随着纳米技术日新月异的发展，研究已深入到原子挨原子的分子级，构造具有全新特性的新结构。特别地，纳米电子领域的发展十分迅速，其潜在影响涉及非常宽的行业领域。目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳米管、半导体纳米线、分子有机电子和单电子器件。 不过，由于多方面的原因，这些微小器件无法采用标准的测试技术进行测试。其中一个主要原因在于这类器件的物理尺寸。某些新型“超CMOS”...