测试访问口TAP

      TAP（TestAccessPort）是一个通用的端口，通过TAP 可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。对整个TAP的控制是通过TAP控制器(TAPController)来完成的。下面先 分别介绍一下TAP的几个接口信号及其作用。其中，前4个信号在IEEE1149.1标准里是强制要求的。

• TCK：时钟信号，为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号。
• TMS：模式选择信号，用于控制TAP状态机的转换。
• TDI：数据输入信号。
• TDO：数据输出信号。
• TRST：复位信号，可以用来对TAPController进行复位(初始化)。这个信号接口在IEEE1149.1标准里并不是强制要求的，因为通过TMS也可以对TAPController进行复位。
• STCK：时钟返回信号，在IEEE1149.1标准里非强制要求。

    简单地说，PC机对目标板的调试就是通过TAP接口完成对相关数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)的访问。

    系统上电后，TAPController 首先进入 Test-LogicReset 状态，然后依次进入Run-Test/Idle、Selcct-DR- Scan、Select-IR-Scan、Capture-IR、Shift-IR、Exitl-IR、Update-IR状态，最后回到 Run- Tcst/Idle 状态。在此过程中，状态的转移都是通过TCK信号进行驱动(上升沿)，通过TMS信号对TAP的状态进行选择转换的。其中：

• 在 Capture-IR状态下，一个特定的逻辑序列被加载到指令寄存器中；
• 在Shift-IR状态下，可以将一条特定的指令送到指令寄存器中；
• 在 Update—IR状态下，刚才输入到指令寄存器中的指令将用来更新指令寄存器。
• 最后，系统又回到Run—Test/Idle状态，指令生效，完成对指令寄存器的访问。

当系统又返回到Run—Test/Idle状态后，根据前面指令寄存器的内容选定所需要的数据寄存器，开始执行对数据寄存器的工作。其基本原理与指令寄存器的访问完全相同，依次为seIect—DR—Scan、Capture—DR、Shift—D、Exitl一DR、Update—DR， 最后回到 Run-Tcst/Idle 状态。通过TDl和TDO，就可以将新的数据加载到数据寄存器中。经过一个周期后，就可以捕获数据寄存器中的数据，完 成对与数据寄存器的每个寄存器单元相连的芯片引脚的数据更新，也完成了对数据寄存器的访问。