[求助] 运放输出计算

下图  运放输出跟 VC VD 的关系怎么算，VA VB 的两个反向正弦波 进行全波整流得到的波形，C63 个人理解是对交流信号进行采样用的，所以输出电压跟 C63 两端的电压成一定的关系，但是不会算这个关系，求助各路大神！！

此电路好像不大对。

从R1＝R2和R3＝R4看，好像是差分放大电路。但R5并不等于R6//R7，而且R5接到了3.6V电源上，R6R7接到了7.2V电源上，不知道是什么用意。

从实测结果来看  感觉不像是要用做差分， R7 实际是一个滑动电阻器，调节该电位器可控制输出幅度，但是找不到输入输出的关系，就是C1 处电压有变化时，输出也会跟着变。另外想问一个，就是PCB 绕线 通以交流电时，产生的磁场强度是否与 铜厚有关，该强度是否会影响到 “检测 磁性物体经过的范围，也就是灵敏度吧”

另外想问一个，就是PCB 绕线 通以交流电时，产生的磁场强度是否与 铜厚有关，该强度是否会影响到 “检测 磁性物体经过的范围，也就是灵敏度吧”

PCB绕线通过交流电流，产生的磁场与电流大小有关，与周围的磁介质有关，与铜箔厚度无关。

但你要 “检测磁性物体”，想必是检测铁磁性物体靠近PCB上绕组时，磁场的变化。这个磁场的变化，也与铜箔厚度基本无关，只与铁磁性物体的大小以及空气间隙的大小有关。

C1两端电压变化，那就是差分信号了。

因为此电路不满足差分放大电路的要求，所以VA和VB两端电位同时变化(均对地升高或者降低)，运放输出也会变化，也就是说，共模信号也会影响输出。

谢谢回答！

目前我做了两个板子，一个板子线圈铜厚 1 OZ  一个 0.5 OZ   出现了灵敏度不一致，如果说跟铜厚无关，那么是否跟 Q品质因数有关呢! 我用电桥实测两个板子的参数信息：

1、 1OZ   LS： 133UH    RS :  1.5 Ω    Q：  55

2、0.5OZ   LS: 133UH    RS:  4.5Ω       Q:    33

先前你说磁场与铜箔厚度的关系。我回复说磁场仅与线圈通过的电流有关。

现在你说的是 “灵敏度不一致”。“灵敏度不一致” ，那就要看对线圈施加的是恒定数值的交流电流还是恒定的交流电压。如果是恒定的交流电压，那么薄铜箔因电阻较大，显然通过的电流较小，产生的磁场也较弱。薄铜箔线圈的Q值低，正是因为其电阻较大所导致。

你直接测量的结果，已经很清楚：薄铜箔线圈电阻是厚铜箔线圈的3倍。当然，此测量结果不一定很准确，可能存在较大误差，但方向不可能错。

施加的是交流电压。谢谢前辈的回答，了解了。