[分享] 二维/石墨烯材料及电子器件测试（二）

二维/石墨烯材料及电子器件电性能测试
二维/石墨烯材料电学方面的研究，材料改性后的电阻率，载流子浓度及载流子迁移率，这些参数之间的关系如下

 对二维/石墨烯材料，通常使用四探针法或范德堡法测试电阻率，用霍尔效应测测试载流子迁移率及载流子浓度，有关这几种测试方法，请参阅《纳米材料电性能测试概述》。对二维/石墨烯电子器件，通常用I-V曲线表征其特性。
二维/石墨烯材料及电子器件电性能测试挑战

• 首先，二维/石墨烯材料属于纳米材料范畴，《纳米材料电性能测试概述》中讨论的测试挑战对二维/石墨烯材料都适用。
• 电阻率及霍尔效应测试均是加流测压的过程需要设备能输出电流并且测试电压，这意味着同时需要电流源和电压表，并且电流源和电压表精度要高，保证测试的准确性。
• 电阻率及电子迁移率通常范围较大，需要电流电压范围都很大的设备。
• 需与探针台配合，测试设备需方便连接，需易用的软件
• 霍尔效应测试时，通常要准备霍尔条(Hall Bar)

这是要入测试行业？

看到好东西就分享，

你们看到啥的也记得分享给大家。

嗯 必须哒：）

楼主你好，《纳米材料电性能测试概述》你有pdf版的吗？我没有在网上搜到它？

老哥，我新注册的没法私信了，搜了下你发的网址，下了几篇，没有查到《纳米材料电性能测试概述》，是记错书名了吗？