典型的误差来源（二）——2602型源表进行VCSEL直流生产测试

静电干扰

高电阻测量，如使用光电二极管的测量，可能会受一些带电物体的静电干扰影响。因而可能会需要静电屏蔽（法拉第笼）来消除静电影响。要了解更多信息，可以参考吉时利的弱信号测量手册第六版中“小电流测量”章节。

     对操作人员可能接触的所有电学连接进行双重绝缘。双重绝缘保证即使一层隔离失效了，操作人员仍然受到保护的。

     使用高可靠性的故障安全互锁开关，以便在测试夹具盖子开启的情况下切断电源。

     尽可能地使用自动化的分拣工具，这样操作人员就不需要触碰到测试夹具内部或打开保护装置。

     为系统的所有用户提供合适的训练，让他们了解所有潜在的危害并懂得如何保护自己免受伤害。

     作为测试系统设计者、集成商以及安装的人，有责任确保操作人员和维护人员的保护到位和有效。

光干扰

杂散光进入光纤或积分球会导致测试结果偏移。要小心确保在所有可能会影响半导体结电导的波长下，所有的器件都得到合适的屏蔽。这一点对于光电二极管的暗电流测量尤为重要。

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