[讨论] 芯片厂商的某些参数会不会虚标?

名侦探柯丽   2015-7-14 14:22 楼主
最近看到两个网友的帖子,关于测试芯片手册上的某些参数的问题,测出来的结果都与芯片手册上所述有差距


之前听说,市面上的充电宝会虚标,比如标一万容量的,实际可能也就七八千

那芯片厂商的某些参数会不会也出现虚标的现象?


顺便贴出来这2位网友的帖子,发烧友们不妨试试,也许他们的测试方法有问题,也期待大神们多点拨




1、gpio翻转速度测试

2、LPC1768与LPC54102数据处理速度对比讨论




回复评论 (12)

正规厂家不会,至于山寨厂,你说呢?否则还是山寨么……
上传了一些书籍资料,也许有你想要的:https://download.eeworld.com.cn/user/chunyang
点赞  2015-7-14 19:02
测试方法不同,结果也是不同的
昵称:灰小子
点赞  2015-7-14 21:39
芯片厂商标的不是一般都要小于实际性能的吗,芯片良品率不高的时候,可以作为低端芯片出售
点赞  2015-7-14 22:23
正规的一般不会,手册上说典型值多少,基本上就是多少,我测过一些,基本可以保证的。

山寨的不保证了,内幕就是,大多数山寨厂商芯片为了降低成本只测OS开短路(而且我还知道他们基本在哪家公司测得),其他功能一律不测,不过这些芯片也是一些简单的,容易坏是正常的,比如玩具之类的,坏了你还以为是孩子玩坏的,其实是芯片用的山寨的,芯片挂掉了。

功能复杂的芯片,可以略微放心,山寨不出来的,即使山寨出来,估计也没法用。风险太大
坐而言不如起而行
点赞  2015-7-16 21:09
引用: wsmysyn 发表于 2015-7-16 21:09
正规的一般不会,手册上说典型值多少,基本上就是多少,我测过一些,基本可以保证的。

山寨的不保证了, ...

大神,请教
OS开短路=操作系统开短路?什么意思
另外上面那两个帖子上出现的与手册不符合的情况,谈谈你的想法
希望大神不胜赐教
点赞  2015-7-17 09:51
引用: 名侦探柯丽 发表于 2015-7-17 09:51
大神,请教
OS开短路=操作系统开短路?什么意思
另外上面那两个帖子上出现的与手册不符合的情况,谈 ...

客气了,不是什么大神,只不过碰巧工作就是测试芯片的
OS=open short,芯片引脚是否有开路或是短路的,这个是芯片最基本的测试。

他上面用的片子我没怎么接触过,听说国内M3核是有做出来的,M0核的好像国内没人做吧不太清楚,但是没用过,至于LPC是不是别人山寨的可能性不大,本身能做出来M3/M0核的已经比较牛了,不至于贴别人的标。

关于和手册有差别,我也只是猜想,
1.对方可能测试方法有些问题(比如和原厂得到这个参数用的测试电路不一样,如芯片的外围电路影响,电容电阻电感,温湿度,等等。

2.在实际量产测试并不是所有的项目都会测试的,有很多参数叫由设计保证(主要是因为量产没法测或耗费时间长成本高等。数字类(SOC,MCU等)的芯片一般都是wafer时候测一些DC参数,成品一般是功能测试,所以有的功能不一定测得到。),手册上有的数据是由小批量手动测试得到的数据,所以还算是比较严谨的,所以正规国际大厂商的片子还是有保证的,毕竟那么多工程师在用,如果参数虚标可能会被发现,不过突然冒出来几个稍微有点问题的片子是有可能的(这种情况就是临界,不失效,但是性能差一些,不过不影响正常功能)。

山寨厂商就算了,有的可能连手册都没有。

坐而言不如起而行
点赞  2015-7-17 12:32

8楼 nmg 

引用: wsmysyn 发表于 2015-7-17 12:32
客气了,不是什么大神,只不过碰巧工作就是测试芯片的
OS=open short,芯片引脚是否有开路或是 ...

楼上可以谈谈芯片测试那些事儿,给坛友们长些见识

比如坛友们做开发的过程中,确定单片机坏了的方法是同样的环境,换一个管用
这方面有没有好的建议?
点赞  2015-7-20 14:16
引用: nmg 发表于 2015-7-20 14:16
楼上可以谈谈芯片测试那些事儿,给坛友们长些见识

比如坛友们做开发的过程中,确定单片机坏了的方法是 ...

可以分享,只是现在初学,做过的测试还不是很全面,还在完善中
关于芯片坏了的确认方法,其实从用户角度来说,换一个好的芯片对比确认是最直接、最有效地。
我们确认芯片好坏一般是用测试机,直接跑程序,每一项根据limit给一个P/F。

如果没有好芯片对比的话,从经验来说,选取一下几点我常见的失效现象:
1.看设计的指标(或是datasheet),静态电流ICC比上限值都大或是比典型值小的离谱的,一般认为芯片内部有一部分电路不正常,使得内阻发生变化的。以前也遇到过,突然静态ICC翻倍了(TYP 30mA,突然变到了60mA),完整测下来有些功能就不正常了。可以测一下VCC to GND的电阻。
2.芯片上电复位有一些管脚的默认电平是明确的,测一下电压,和datasheet不一致的话,也是有问题的。
3.内部引脚开路,也比较常见一点,可能是ESD放电造成,这个以前遇到过不少,开始芯片正常,后来突然不正常,测试OS发现,引脚确实是有开路了。
4.功能测试,写一段程序进去,用示波器抓波形,这个大家都会用。而且也很快就确认了。
5.以上4条,能解决多大问题,也看情况。当然还有一些其他更有效的方法,但是需要专用设备。

其实从测试芯片角度看,和从用户角度一样差不多,我们测也需要知道芯片怎么用,只不过我们比用户多知道一些不会开放给客户的功能,和芯片内部的部分电路或是一些细节的东西
最后对于使用还是有两条建议的:

1.尽量避免误操作,非法操作,恶意操作,手册上Absolute Maximum Ratings 一定不要超过,比如引脚承受的最大电流20mA,就别超过,超过了确实是要烧掉芯片里面wire的,芯片die上的pad到外部引脚,是用金线连接的,直径一般都是25um/1.0mil,电流大了确实会把金线烧断的。

2.一定要注意ESD保护,一般情况下商业级芯片可以当做工业级用,但是ESD是多少就是多少。

3.其实测试中还有好多有意思的,限于篇幅。说多了,就当看一乐吧
坐而言不如起而行
点赞  2015-7-20 20:07
引用: wsmysyn 发表于 2015-7-20 20:07
可以分享,只是现在初学,做过的测试还不是很全面,还在完善中
关于芯片坏了的确认 ...

精彩,GET

既然限于篇幅,就等待wsmysyn开贴讲起 :)
点赞  2015-7-21 09:41
芯片的一般都是大厂商,应该不会虚标吧。毕竟有那么多双眼睛在看着。。。
分享铸就美好未来。。。
点赞  2015-7-21 09:47
正规厂商标的参数都能达到,而且大部分实际参数都优于datasheet上的。至于小厂,你懂的。
还有一些参数应该是理论值和实际值的差别,比如硬盘,容量理论值是1T,但是由于格式化占用,以及坏道等不能计算在内,最终达不到1G。这个虽然不是芯片,但是道理应该一样。不过对于这样的“虚标”,好像没有一个标准吧,比如1T的硬盘实际容量低于多少就不能这么标了。还有手机内存,16G的很多也就10G多一点儿,那就有点儿太坑了。
点赞  2015-7-21 09:54
一般还是可以的。特别是芯片。 躲后面山寨的厂家那就难说。
点赞  2015-7-21 15:10
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