[讨论] 下载有礼:看“智””造“热”侦探 FLIR ETS320™ 红外热像仪如何纠错!

EEWORLD社区   2017-9-25 14:33 楼主
前言:
在电子产品测试或科研中,“热”绝对算得上是系统运行的一个重要指标。工程师必须严格测试和控制芯片发热状况。随着电子元件速度越来越快,体积越来越小,精度达到皮秒(万亿分之一秒)级,在研发时准确找出发热元件,从源头完善设计,成为了一种挑战。

怎样使热检测既快速、准确,又便捷、经济呢?
看你想看,要你想要!下载好文赢好礼喽!

活动时间: 即日起——2017年11月22日

参与方式:

(活动已结束)

活动好礼:
50元京东电子卡4份、30元京东电子卡10份
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回复评论 (26)

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