[资料分享] TI C2000关于AD采样精度的校准算法

在实际使用中，ADC的转换结果误差较大，如果直接将此转换结果用于控制回路，必然会降低控制精度。（最大转换误差可以达到9%左右）
       F2812的ADC转换精度较差的主要原因是存在增益误差和失调误差，要提高转换精度就必须对两种误差进行补偿。

       对于ADC模块采取了如下方法对其进行校正：
       选用ADC的任意两个通道（如A3，A4）作为参考输入通道，并分别提供给它们已知的直流参考电压作为输入（RefHigh和RefLow），通过读取相应的结果寄存器获取转换值，利用两组输入输出值求得ADC模块的校正增益和校正失调，然后利用这两个值对其他通道的转换数据进行补偿，从而提高了ADC模块转换的准确度。
       实现校准的硬件电路在本文中不作描述，在有关资料中可以查到。下面是该算法的C语言实现：

//首先计算两个通道的参考电压转换后的理想结果
//     A4 = RefHigh = 2.5V  ( 2.5*4095/3.0 = 3413 ideal count)
//     A3 = RefLow  = 0.5V  ( 0.5*4095/3.0 = 683 ideal count)
#define     REF_HIGH_IDEAL_COUNT   3413
#define     REF_LOW_IDEAL_COUNT    683
#define  SAMPLES       63
//定义所需的各个变量
Uint16  Avg_RefHighActualCount;  
Uint16  Avg_RefLowActualCount; /   
Uint16  CalGain;                                                 // Calibration Gain     
Uint16  CalOffset;                                              // Calibration Offset
Uint16  SampleCount;
Uint16 RefHighActualCount;
Uint16 RefLowActualCount;
//对各个变量进行初始化
void InitCalib()
{
    Avg_RefLowActualCount = 0;
    Avg_RefLowActualCount  = 0;
    Avg_RefHighActualCount = 0;
    RefHighActualCount = 0;
    RefLowActualCount = 0;
    CalGain   = 0;
    CalOffset = 0;
    SampleCount = 0;
}
//获得校准增益和校准失调
// Algorithm: Calibration formula used is:
//
//  ch(n) = ADCRESULTn*CalGain - CalOffset   
// n = 0 to 15 channels
//  CalGain =   (RefHighIdealCount - RefLowIdealCount)
//                       -----------------------------------------
//                      (Avg_RefHighActualCount  - Avg_RefLowActualCount)
//
//  CalOffset = Avg_RefLowActualCount*CalGain - RefLowIdealCount
//
//  A running weighted average is calculated for the reference inputs:
//
//  Avg_RefHighActualCount = (Avg_RefHighActualCount*SAMPLES
//                            + RefHighActualCount) / (SAMPLES+1)
//
//  Avg_RefLowActualCount  = (Avg_RefLowActualCount*SAMPLES
//                                         + RefLowActualCount) / (SAMPLES+1)
//     
void GetCalibParam()
{
RefHighActualCount = AdcRegs.ADCRESULT4 >>4;
RefLowActualCount = AdcRegs.ADCRESULT3 >>4;
if(SampleCount > SAMPLES)
  SampleCount = SAMPLES;
Avg_RefHighActualCount = (Avg_RefHighActualCount * SampleCount
         + RefHighActualCount) / (SampleCount+1);
Avg_RefLowActualCount  = (Avg_RefLowActualCount * SampleCount
                              + RefLowActualCount) / (SampleCount+1);
CalGain = (REF_HIGH_IDEAL_COUNT - REF_LOW_IDEAL_COUNT)
                        / (Avg_RefHighActualCount  - Avg_RefLowActualCount);
CalOffset = Avg_RefLowActualCount*CalGain - RefLowIdealCount;
SampleCount++;
}
//在ADC_ISR中，对其他各个通道的结果进行修正：
interrupt void  adc_isr(void)
{
GetCalibParam();
......
newResult n= AdcRegs.ADCRESULTn*CalGain - CalOffset;
......
}
复制代码

       通过上面的代码，配合硬件电路改动，可以大幅实现提高ADC采样的精度，实现更灵敏、更精确的控制。