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2021年01月07日 | 打造高效测试解决方案，贸泽联合ADI将举办ATE在线研讨会
2021-01-07 来源：EEWORLD
专注于引入新品并提供海量库存的电子元器件分销商贸泽电子 (Mouser Electronics) 宣布将携手ADI于1月12日下午14:00-15:30举办一期主题为“ADI助力半导体测试设备成长”的在线研讨会。届时，来自ADI 的技术专家将与观众探讨分享特定于ATE 应用的丰富产品线以及相应的参考设计方案，让工程师们能够更好的了解半导体自动测试设备，进一步提升测试实用技能。
半导体测试是半导体生产过程中的重要环节，其中，测试机是检测芯片功能和性能的专用设备，需要具有高度集成、高效率和高精度等特点。对于需要高性能、高可靠、高性价比解决方案的 IC 测试应用，ADI 提供了整体的解决方案。本次直播将重点为观众介绍集成式引脚电子器件 (PE)、器件电源 (DPS)、参数测量单元 (PMU)、参考设计方案，帮助工程师能够更好地掌握测试环节中的重要因素，实现更为便捷和高效的测试。
贸泽电子亚太区市场及商务拓展副总裁田吉平女士表示：“随着芯片性能的提升，芯片的设计也越来越复杂，为了保障产品品质，出货前的半导体测试已然成为非常重要的部分。对于测试工程师来说，利用良好的测试系统可以获得较好的测试覆盖率，而测试系统硬件和软件的性能不仅影响测试方法，更造成测试的精确度、灵活度及难易度等方面的差别。为了让工程师在测试应用中，能在特定的情况下找到最佳解决方案，贸泽电子特邀ADI专家分享相关课程，深入探讨和剖析IC测试过程中所用到的器件，结合ADI的全面解决方案，助力工程师轻松应对测试中的各类挑战，提高测试质量。”
技术资源库，包括技术资源中心、产品数据手册、供应商特定参考设计、应用笔记、技术设计信息、设计工具以及其他有用的信息。
史海拾趣
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