发布时间：2015-06-17

激光二极管（Laser diode，LD）和垂直腔面发射激光器（Vertical Cavity Surface Emitting Laser，VCSEL）在光通信、光谱学和其他许多重要应用中是两种主要的元器件。随着对上述应用的需求的增长，对这两类基本元件的需求也随之增长，这就要求人们更加注重于开发精确且成本经济性好的生产测试策略。 典型的激光二极管模组由一个激光二极管和背光探测...

发布时间：2015-06-17

调制输入 激光二极管模组常常是配备了调制或衰减控制输入引脚，因而在LIV测试扫描中，可能需要加入2400型或2601型源表对衰减输入端施加偏置。 正向电压测试 正向电压由多子电流流动形成，因而是半导体材料和结温的函数。 正向电压测试可以在激光二极管和背光探测器上进行，用以确定半导体结的正向操作电压。一般地，2602型源表用以提供足够小的源电流（以防器件损伤），然后测量...

发布时间：2015-06-17

热敏电阻测试 典型的激光二极管模组中，热敏电阻在25℃下的标称阻值为10k 。在常规工作模式中，整个模组的热稳定性要比其绝对温度值更为关键。 一系列测试热敏电阻的技术如下： 1、维持激光二极管模组的温度在一个已知温度上，简单测量热敏电阻的阻值； 2、将一个特性已经测出的热敏电阻热耦合到激光二极管模组上，使整个组装体达到热平衡，比较特性已知热敏电阻与激光二极管热敏电阻的...

发布时间：2015-06-17

多器件测试 TEC测试和控制 许多激光二极管模组配备了半导体制冷器（帕尔贴器件）。一般地，可以用TEC控制器在LIV测试扫描中控制整个模组的温度。还可以调节温度设定点来对TEC的功能进行校验，并可在达到新的设定温度之后检验热敏电阻的阻值。 过大的机械剪切载荷可能是最常见的帕尔贴器件失效机理。在传送和安装帕尔贴器件过程中，机械剪切载荷会导致器件的部分或全部元件的分层或...

发布时间：2015-01-29

正向电压测试 正向电压(VF)测试对激光二极管的正向直流特性进行校验，测量时扫描电流IF，测量激光二极管上的电压降。 一些大功率激光二极管可能要求电流扫描范围达到2~3A，步长一般在1mA。更多情况下，一般电流扫描至1A，步长为0.5mA或0.25mA。测试扫描的步长时间应在几个毫秒量级，电压测量的范围一般是0~10V，精度要达到 V级。 VCSEL一般是低功率器件，电流扫描最...

发布时间：2015-01-29

开始扫描 开始扫描时，所有设备的输出端接通打开。一旦温度稳定，外部程序即可调用LIV_Test()函数，通过向2602设备发送如下字符串实现： send(kth2602, LIV_Test() ,status) 读取线程缓冲区 query trace buffers send(kth2500, :fetch? , status) send(kth2420, :trace:d...

发布时间：2015-01-29

多器件测试 TEC测试和控制 许多激光二极管模组配备了半导体制冷器（帕尔贴器件）。一般地，可以用TEC控制器在LIV测试扫描中控制整个模组的温度。还可以调节温度设定点来对TEC的功能进行校验，并可在达到新的设定温度之后检验热敏电阻的阻值。 过大的机械剪切载荷可能是最常见的帕尔贴器件失效机理。在传送和安装帕尔贴器件过程中，机械剪切载荷会导致器件的部分或全部元件的分层或破损。简...

发布时间：2015-01-29

热敏电阻测试 典型的激光二极管模组中，热敏电阻在25℃下的标称阻值为10k 。在常规工作模式中，整个模组的热稳定性要比其绝对温度值更为关键。 一系列测试热敏电阻的技术如下： 1、维持激光二极管模组的温度在一个已知温度上，简单测量热敏电阻的阻值； 2、将一个特性已经测出的热敏电阻热耦合到激光二极管模组上，使整个组装体达到热平衡，比较特性已知热敏电阻与激光二极管热敏电阻的阻值； ...

发布时间：2015-01-29

调制输入 激光二极管模组常常是配备了调制或衰减控制输入引脚，因而在LIV测试扫描中，可能需要加入2400型或2601型源表对衰减输入端施加偏置。 正向电压测试 正向电压由多子电流流动形成，因而是半导体材料和结温的函数。 正向电压测试可以在激光二极管和背光探测器上进行，用以确定半导体结的正向操作电压。一般地，2602型源表用以提供足够小的源电流（以防器件损伤），然后测量半导体结...