发布时间：2024-01-05

失效模式和影响分析（DFMEA，Design Failure Mode and Effects Analysis）在汽车工业中扮演着非常重要的角色。在汽车设计和制造过程中，DFMEA被广泛应用于识别和管理潜在的设计失效模式，以及评估这些失效模式对汽车性能、安全性和可靠性的影响。通过对设计和制造过程中可能存在的问题进行系统性的分析和评估，DFMEA有助于降低汽车制造过程中的风险...

发布时间：2020-12-21

新产品开发过程中，防止量产后出现物料供应短缺现象，需引入多个厂家的替代物料，避免出现 Single Source，有时，甚至产品量产后还会进行 Source 的验证及引入。然而，正替代物料，不同厂家来料规格（包装、本体设计尺寸等）不一致，添加或者切换替代物料时，需设备停止生产等待切换，且需要重新调整程序，严重影响生产效率。物料的规格不一致+程序参数不一致，极大的风险导致生产出...

发布时间：2013-05-13

【中国，2013年5月13日】全球电子设计创新领先企业Cadence设计系统公司（NASDAQ:CDNS）近日宣布，GLOBALFOUNDRIES已携手Cadence®，为其20和14纳米制程提供模式分类数据。GLOBALFOUNDRIES之所以采用Cadence模式分类和模式匹配解决方案，是因为它们可以使可制造性设计（DFM）加快四倍，这对提高客户硅片成品率和可预测性非常关...

发布时间：2012-02-19

低温共烧陶瓷(LTCC)电路技术支持紧凑型多层设计并被广泛用于无线应用，特别是在RF模块和包内系统(SiP)设计中。相对于层压技术，它具有一系列优势，尽管其工艺与层压印刷电路板材料的处理工艺类似。其典型好处是较低的介电损耗，更高的封装密度以及集成/内嵌的无源部件(电阻、电感和电容)。有较大范围的磁带材料和工艺可用于LTCC设计。 多层 LTCC 结构通常会在低温共烧过程中...

发布时间：2011-09-27

Cadence可制造性设计再传捷报，富士通选择“In-Design”技术确保其良品率、可预测性和更快的硅实现途径 加州圣荷塞，2011年9月19日 — 全球电子设计创新领先企业Cadence设计系统公司 (NASDAQ: CDNS)，今天宣布富士通半导体有限公司已经采用Cadence® 签收可制造性设计 (DFM) 技术，用于其复杂的28纳米ASIC及系统级芯片（SoC）混...

发布时间：2011-01-13

尽管半导体行业的发展历程一直都呈现出显著的周期性，但过去一年半导体市场的跌宕起伏还是令业界“感受深刻”：2010年，半导体产业从2009年的惨淡局面中迅猛反弹，2010年上半年增长强劲，下半年又突然放缓脚步。市场的波动使得各大分析机构也不断调整预期。 又值岁末年初，市场分析机构普遍预测，2011年半导体产业不会再现2010年预期中的强劲表现，但将继续缓和增长。展望新...

发布时间：2010-12-10

Cadence设计系统公司 (NASDAQ: CDNS)，今天宣布中国最大的半导体晶圆厂中芯国际集成电路制造有限公司（中芯国际，纽约证券交易所交易代码：SMI，香港联交所交易代码：0981.HK），已经将Cadence® Silicon Realization产品作为其65纳米参考流程4.1版本（Reference Flow 4.1）可制造性设计（DFM）以及低功耗技术...

发布时间：2010-05-24

　　Mentor并购valor之后首次在2010 nepcon展会上亮相。为什么Mentor将触角伸向IC制造？它将如何整合设计和制造流程，让这次合并实现1+1 2的效果？Mentor系统设计部门市场开发经理John Isaac介绍了这次并购以及Mentor的战略想法。 　　Mentor系统设计部门市场开发经理John Isaac 　　Valor成立于1992年，是...

发布时间：2009-10-21

全球电子设计创新领先企业Cadence设计系统公司（NASDAQ: CDNS）今天宣布，中芯国际集成电路制造有限公司（中芯国际”,纽约证交所股份代号：SMI；香港联合交易所股票代码: 0981.HK）采用了Cadence® Litho Physical Analyzer与Cadence Litho Electrical Analyzer，从而能够更准确地预测压力和光刻差...

发布时间：2009-10-20

　　Cadence 设计系统公司日前宣布，中芯国际集成电路制造有限公司（以下简称“中芯国际”）采用了 Cadence(R) Litho Physical Analyzer 与 Cadence Litho Electrical Analyzer，从而能够更准确地预测压力和光刻差异对65和45纳米半导体设计性能的影响。 　　此前单个单元和库的电气行为可在一个单独的环境中进行预...