发布时间：2023-06-13

引 言 基于扫描路径法的可测性设计技术是可测性设计（DFT）技术的一个重要的方法，这种方法能够从芯片外部设定电路中各个触发器的状态，并通过简单的扫描链的设计，扫描观测触发器是否工作在正常状态，以此来检测电路的正确性。但随着数字电路朝着超大规模的方向发展，设计电路中使用的触发器的数目也日趋庞大，怎样采用合适的可测性设计策略，检测到更多的触发器，成为基于扫描路径法的一个关键问题。...

发布时间：2016-09-01

0 引言 集成电路的生产成本以测试开发、测试时间以及测试设备为主。模拟电路一般只占芯片面积的10％左右，测试成本却占总测试成本的主要部分。所以，削减模拟部分的测试成本将有利于芯片的设计与生产。数字电路有很多成熟的可测性设计技术(design fortest，DFT)，模拟电路测试还未发展到如此成熟，缺乏完善的模型进行自动化测试。随着集成电路的发展，混合信号芯片功能越来越复杂...

发布时间：2014-05-21

　　汽车IC重燃DFT技术 　　随着人们对安全关键应用设备，尤其是汽车 IC(集成电路)，提出了新的需求，DFT(可测性设计)技术又再次受到重视。越来越多的处理器被运用于汽车的刹车系统、发动机控制、平视显示器、导航系统和图像传感器等等。这些芯片必须满足非常高的质量和可靠性标准，所以芯片制造商也必须进行高水平的生产测试和系统内部测试。不仅如此，他们还必须在尽可能提升测试水平的...