模数转换器相关文章 - 电子工程世界（EEWORLD）

模数转换器即A/D转换器，或简称ADC，通常是指一个将模拟信号转变为数字信号的电子元件。通常的模数转换器是将一个输入电压信号转换为一个输出的数字信号。由于数字信号本身不具有实际意义，仅仅表示一个相对大小。故任何一个模数转换器都需要一个参考模拟量作为转换的标准，比较常见的参考标准为最大的可转换信号大小。

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【GD32F470紫藤派开发板使用手册】第八讲 ADC-规则组多通道采样实验

发布时间：2024-11-19

8.1实验内容通过本实验主要学习以下内容： ADC的简介 GD32F470 ADC工作原理 DMA原理规则组多通道循环采样 8.2实验原理 8.2.1ADC原理我们知道，自然界中有非常多的模拟信号，比如光照强度，还有其他的例如温度、声音等等，那么人们是怎么来衡量一个模拟信号的呢？我们通常会说今天光照度达到了3万Lux（照度单位），现在测量到的体温是36.5℃...

单片机标签： GD32F470 紫藤派开发板 ADC 采样实验

GD32F303固件库开发（10）----双ADC轮询模式扫描多个通道

发布时间：2024-11-19

概述本章主要配置,双ADC轮询模式扫描多个通道，通过串口进行打印。查阅手册可以得知，PA9、PA10为串口0的输出和输入口。查阅手册可以得知，PA9、PA10为串口0的输出和输入口。需要GD样片的可以加Q_qun申请：6_15061293 。样品申请 https://www.wjx.top/vm/wFGhGPF.aspx# 硬件准备这里准备了1块开发板进...

单片机标签： GD32F303 固件库开发双ADC 轮询模式扫描

GD32F303固件库开发（11）----ADC在DMA模式下扫描多个通道

发布时间：2024-11-18

概述本章主要配置,ADC在DMA模式下扫描多个通道，通过串口进行打印。查阅手册可以得知，PA9、PA10为串口0的输出和输入口。需要GD样片的可以加群申请：615061293 。 ADC通道配置硬件准备这里准备了1块开发板进行验证，分别是GD32303C_START开发板。 keil配置 microlib 进行了高度优化以使代码变得很小。它的功能比缺省...

单片机标签： GD32F303 固件库开发 ADC DMA模式

RT-Thread开发GD32F450添加adc外设

发布时间：2024-11-15

开发板使用的是gd32f450zk，env工具使用的版本是1.3.5，rtthread版本是5.0.0 添加adc外设的步骤如下：步骤1：查看开发板的电路原理图，确定adc的使用引脚，使用的是引脚PF6，即adc012_IN4，如下图：步骤2：使用env工具开启adc外设，并选择配置相应的adc外设，如下如步骤3：打开drv_adc.c文件，修改代码 ...

单片机标签： RT-Thread 开发GD32F450 adc外设

瑞萨推出包括先进可编程14位SAR ADC在内的全新AnalogPAK可编程混合信号IC系列

发布时间：2024-11-12

全新产品几乎适用于任何应用，大幅减少元件数量、BOM成本和占板空间 2024 年 11 月 12 日，中国北京讯 - 全球半导体解决方案供应商瑞萨电子今日宣布推出全新AnalogPAK™ IC系列，其中包括低功耗——SLG47001/3和车规级产品——SLG47004-A，以及业界先进的可编程14位SAR ADC（逐次逼近寄存器模数转换器）——SLG47011。 ...

嵌入式标签：瑞萨 ADC AnalogPAK 可编程混合信号 IC

射频 FDA 如何使用射频采样 ADC 来增强测试系统

发布时间：2024-11-11

为了在无线通信系统中实现更高的数据速率以及在雷达中使用更窄的脉冲来解析近距离目标，对测试和测量仪器的性能和带宽提出了更高的要求。高带宽示波器和射频数字转换器等射频 (RF) 测试和测量仪器可使用射频采样模数转换器 (ADC)，对从直流到数千兆赫的信号同时进行数字化。射频采样 ADC 取代混频器与窄带 ADC 的配置，降低了系统复杂性并提高了宽带测试和测量仪器、雷达和无...

物联网标签：射频 FDA 射频采样 ADC 测试

GD32 ADC规则组多通道采样，数据发生错位？

发布时间：2024-11-08

我们知道，使用ADC规则组（常规组）多通道采样时，必须要配合DMA使用，但有的小伙伴遇到这种应用下数据错位的情况，比如预设的转换顺序是通道0- 通道1- 通道2，但定义的数据buffer中的采样值却是通道1- 通道2- 通道0，那这是为什么呢？出现这种情况的一个可能原因是——ADC先使能再去配置DMA。我们来看下面的时序：如果先配置并使能ADC，当触发信号来临，AD...

单片机标签： GD32 ADC规则组多通道采样错位

GD32 MCU如何使用双ADC内核提高ADC采样率？

发布时间：2024-11-08

如下图所示，GD32F303系列MCU在不同的ADC位宽情况下均具有对应的最高采样率，那这个最高采样率还可以提高吗？答案是可以的。GD32F30X系列MCU可以支持双ADC内核，分别为ADC0和ADC1，且双ADC可以支持同步模式，同步模式可以支持常规并行模式、常规快速交叉模式和常规慢速交叉模式，其中可以使用ADC0和ADC1的交叉模式采样同一个通道，同步等效为提高AD...

单片机标签： GD32 MCU 双ADC内核 ADC采样率

国产高精度、高速率ADC芯片，正在崛起

发布时间：2024-11-05

ADC可以称作是模拟芯片领域的明珠。作为一种关键器件，ADC设计难度大，专利墙高，所以国内一直处于追赶的状态。近年来，国产ADC发展极为迅速，逐渐在各项参数上赶上了国际主流水准。不得不说，ADC芯片本身比较分散，由于采样速度和转换精度不可兼得，针对不同应用拥有SAR、Sigma-Delta等类型ADC，所以难免会在选型时左右不一，尤其是面对性能各异的国产产品时，...

模拟电子标签： ADC芯片国产芯片

如何通过GD32 MCU内部ADC参考电压通道提高采样精度？

发布时间：2024-11-05

ADC采样精度受很多因素影响，比如电源波动、参考电压波动、输入信号波动等，GD32 MCU内部提供了一个参考电压通道，理论上可以优化由于电源和参考电压较大波动引入的采样误差。如下图所示，GD32F303 ADC内部17通道为VREFINT参考电压通道，内部参考电压的典型数值为1.2V。当外部参考电压波动较大的情况下，如何通过内部参考电压通道提高ADC采样精度呢？比...

单片机标签： GD32 MCU 内部ADC 参考电压通道采样精度

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