模数转换器相关文章 - 电子工程世界（EEWORLD）

模数转换器即A/D转换器，或简称ADC，通常是指一个将模拟信号转变为数字信号的电子元件。通常的模数转换器是将一个输入电压信号转换为一个输出的数字信号。由于数字信号本身不具有实际意义，仅仅表示一个相对大小。故任何一个模数转换器都需要一个参考模拟量作为转换的标准，比较常见的参考标准为最大的可转换信号大小。

在电子工程世界为您找到如下关于“模数转换器”的新闻

瑞萨推出包括先进可编程14位SAR ADC在内的全新AnalogPAK可编程混合信号IC系列

发布时间：2024-11-12

全新产品几乎适用于任何应用，大幅减少元件数量、BOM成本和占板空间 2024 年 11 月 12 日，中国北京讯 - 全球半导体解决方案供应商瑞萨电子今日宣布推出全新AnalogPAK™ IC系列，其中包括低功耗——SLG47001/3和车规级产品——SLG47004-A，以及业界先进的可编程14位SAR ADC（逐次逼近寄存器模数转换器）——SLG47011。 ...

嵌入式标签：瑞萨 ADC AnalogPAK 可编程混合信号 IC

射频 FDA 如何使用射频采样 ADC 来增强测试系统

发布时间：2024-11-11

为了在无线通信系统中实现更高的数据速率以及在雷达中使用更窄的脉冲来解析近距离目标，对测试和测量仪器的性能和带宽提出了更高的要求。高带宽示波器和射频数字转换器等射频 (RF) 测试和测量仪器可使用射频采样模数转换器 (ADC)，对从直流到数千兆赫的信号同时进行数字化。射频采样 ADC 取代混频器与窄带 ADC 的配置，降低了系统复杂性并提高了宽带测试和测量仪器、雷达和无...

物联网标签：射频 FDA 射频采样 ADC 测试

GD32 ADC规则组多通道采样，数据发生错位？

发布时间：2024-11-08

我们知道，使用ADC规则组（常规组）多通道采样时，必须要配合DMA使用，但有的小伙伴遇到这种应用下数据错位的情况，比如预设的转换顺序是通道0- 通道1- 通道2，但定义的数据buffer中的采样值却是通道1- 通道2- 通道0，那这是为什么呢？出现这种情况的一个可能原因是——ADC先使能再去配置DMA。我们来看下面的时序：如果先配置并使能ADC，当触发信号来临，AD...

单片机标签： GD32 ADC规则组多通道采样错位

GD32 MCU如何使用双ADC内核提高ADC采样率？

发布时间：2024-11-08

如下图所示，GD32F303系列MCU在不同的ADC位宽情况下均具有对应的最高采样率，那这个最高采样率还可以提高吗？答案是可以的。GD32F30X系列MCU可以支持双ADC内核，分别为ADC0和ADC1，且双ADC可以支持同步模式，同步模式可以支持常规并行模式、常规快速交叉模式和常规慢速交叉模式，其中可以使用ADC0和ADC1的交叉模式采样同一个通道，同步等效为提高AD...

单片机标签： GD32 MCU 双ADC内核 ADC采样率

国产高精度、高速率ADC芯片，正在崛起

发布时间：2024-11-05

ADC可以称作是模拟芯片领域的明珠。作为一种关键器件，ADC设计难度大，专利墙高，所以国内一直处于追赶的状态。近年来，国产ADC发展极为迅速，逐渐在各项参数上赶上了国际主流水准。不得不说，ADC芯片本身比较分散，由于采样速度和转换精度不可兼得，针对不同应用拥有SAR、Sigma-Delta等类型ADC，所以难免会在选型时左右不一，尤其是面对性能各异的国产产品时，...

模拟电子标签： ADC芯片国产芯片

如何通过GD32 MCU内部ADC参考电压通道提高采样精度？

发布时间：2024-11-05

ADC采样精度受很多因素影响，比如电源波动、参考电压波动、输入信号波动等，GD32 MCU内部提供了一个参考电压通道，理论上可以优化由于电源和参考电压较大波动引入的采样误差。如下图所示，GD32F303 ADC内部17通道为VREFINT参考电压通道，内部参考电压的典型数值为1.2V。当外部参考电压波动较大的情况下，如何通过内部参考电压通道提高ADC采样精度呢？比...

单片机标签： GD32 MCU 内部ADC 参考电压通道采样精度

【GD32 MCU 入门教程】GD32 MCU 常见外设介绍 (6) ADC 模块介绍

发布时间：2024-11-04

6.1.ADC 基础知识 12 位逐次逼近式模数转换器模块（ADC），可以采样来自于外部输入通道、内部输入通道的模拟信号，采样转换后，转换结果可以按照最低有效位对齐或最高有效位对齐的方式保存在相应的数据寄存器中。 6.2.GD32 ADC 外设原理 GD32 ADC 主要特性 ◼ 高性能： – ADC采样分辨率： 12位、 10位、 8位、或者6位分辨率； – 前置校准功...

单片机标签： GD32 MCU 常见外设 ADC 模块

GD32 ADC内部通道采样异常原因

发布时间：2024-11-04

熟悉GD32的小伙伴都知道，ADC除了可以采集IO口上的电压外，还有两个内部通道，分别为内部温度传感器通道（ADC0_CH16）和Vrefint通道（ADC0_CH17），其中内部温度传感器通道可以采集芯片周围的温度（注意，这个温度通道适用于采集相对温度，如果用来测试绝对温度，是有一定的误差哦），Vrefint是一个稳定的带隙基准电压，典型值为1.2V。有的小伙伴反馈使...

单片机标签： GD32 ADC 内部通道采样异常

GD32 ADC转换时间如何计算？

发布时间：2024-10-30

GD32 MCU当前产品的ADC都是SAR ADC，它有着转换速度快，精度高的优点，刚好适合在一些需要快速ADC转换的场合使用，比如电机应用。那么小伙伴们知道如何计算GD32 ADC的转换时间吗？以GD32F30x为例，我们看下用户手册中关于ADC转换时间的介绍：可以看到，ADC一个通道的转换时间=采样时间+12.5个CK_ADC周期。我们再来看GD官方ADC...

单片机标签： GD32 ADC转换时间如何计算？

采用电容型PGA，纳芯微推出高精密多通道24/16位Δ-Σ型ADC

发布时间：2024-10-30

纳芯微近日推出多通道24/16位、低功耗、高精密 Δ-Σ型ADC—NSAD124x和NSAD114x 系列，具有3ppm积分非线性和高达23.4位的有效分辨率，专为满足工业级高精度测温需求而设计。这两款产品可为热电偶测温、多线制RTD、热敏电阻、电阻桥式传感器等多种应用场景，以及工厂自动化、复杂过程控制系统等广泛工业应用，提供高精度、高稳定性测温解决方案。 NSAD12...

模拟电子标签：电容型 PGA 纳芯微 ADC

加载更多

关于“模数转换器”的资料