测试相关文章 - 电子工程世界（EEWORLD）

测试英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“测”与中文“试”两个字组成的词语。是动词、名词。测试行为，一般发生于为检测特定的目标是否符合标准而采用专用的工具或者方法进行验证，并最终得出特定的结果。

在电子工程世界为您找到如下关于“测试”的新闻

发布时间：2024-11-19

作者：是德科技产品营销经理 Choon-Hin Chang 印刷电路板组件（PCBA）制造商依靠在线测试（ICT）系统来检测制造工艺和元器件中存在的缺陷。制造商倾向于使用 ICT 系统来测试电子组件，因为这种系统不仅易于编程、能够轻松识别各种故障，还具有测试吞吐量高、误报率低以及故障诊断准确度高等诸多优势。近年来，PCBA 技术持续进步，测试理念不断演进，制造业的...

测试测量标签：印刷电路板 PCBA ICT 在线测试持续精进是德科技

是德科技助力三星电子成功验证 FiRa® 2.0 安全测距测试用例

发布时间：2024-11-15

采用是德科技的超宽带测试解决方案，并搭载三星的 U100 芯片组进行测试可确保超宽带设备的稳定性和安全性是德科技成功助力三星电子，在其Exynos Connect U100芯片组上验证了FiRa® 2.0安全测试用例。此次验证得益于是德科技提供的超宽带（UWB）测试解决方案，该方案符合物理层一致性测试的各项要求。是德科技助力三星电子成功验证 FiRa...

测试测量标签：是德科技三星电子测距

GD32F303固件库开发（5）----GPIO输出模式，速率测试、开漏和输出说明

发布时间：2024-11-15

概述以STM32CUBEMX创建STM32F103工程，同时移植在GD32F303中，同时通过GD32303C_START开发板内进行验证。需要样片的可以加Qun申请：615061293。硬件准备这里准备了2块开发板进行验证，分别是GD32303C_START开发板。样品申请 https://www.wjx.top/vm/wFGhGPF.aspx# 开发板管...

单片机标签： GD32F303 固件库开发 GPIO 输出模式速率测试开漏和输出说明

STM32CUBEMX开发GD32F303（4）----GPIO输出模式，速率测试、开漏和输出说明

发布时间：2024-11-15

概述以STM32CUBEMX创建STM32F103工程，同时移植在GD32F303中，同时通过GD32303C_START开发板内进行验证。需要样片的可以加Qun申请：615061293。硬件准备这里准备了2块开发板进行验证，分别是GD32303C_START开发板。开发板管脚配置在GD32303C_START中的LED管脚配置如下所示。不同速率对应的...

单片机标签： STM32CUBEMX GD32F303 GPIO输出模式速率测试开漏输出说明

线束耐久特性测试和触点压降测试方法

发布时间：2024-11-15

本文中基于 QC/T 29106-2014 标准，提出了新的耐久特性测试和触点压降测试方法，并针对这2种测试方法进行试验验证。以下为正文。线束作为汽车电路的基本网络主体，在汽车电气系统中的地位仍然无法替代。汽车线束分布在汽车的各种角落，按照主要结构可分成驾驶室线束、底盘线束和发动机线束。其中驾驶室中的门线束长时间在反复伸缩下工作；底盘线束长时间在高低温和泥浸渍环...

嵌入式标签：线束耐久特性测试触点压降测试

从探头到电源，泰克正引领电力电子测试全面创新

发布时间：2024-11-15

无论是汽车的电气化还是生成式人工智能，都离不开电力技术。泰克全球中端及基础示波器产品线总经理 Daryl Ellis表示，泰克正通过全面的电力测试设备及方案，满足不同的测试需求。从高带宽、高电流的宽禁带半导体测量，到低带宽、低电流的电池驱动的设备休眠功耗测试，泰克都可以通过可扩展的测试解决方案，促成清洁、可再生和可靠的能源生态系统的发展。近日，泰克同时发布了两款重磅新品...

测试测量标签：泰克探头电源

浅析车载以太网测试内容和测试方法

发布时间：2024-11-15

　　现在，汽车行业对可靠性和安全性要求越来越高，车载以太网在应用的过程中，为了保证其可靠性与安全性，就迫切需要对其开展测试工作。传统的以太网测试和车载以太网测试还存在着一定的差异，因此传统以太网测试方法并不适用干汽车以太网测试。汽车行业对测试的要求更高，所以需要由相应的组织或联盟制定车载以太网测试标准。　　目前，业界通用的车载以太网测试方法参考OPEN联盟制定的TC8-...

嵌入式标签：车载以太网测试内容测试方法

品英Pickering公司推出新款面向未来的PXIe单槽控制器，适用于高性能测试和测量应用

发布时间：2024-11-15

新款PXIe嵌入式控制器将在2024年德国慕尼黑电子展（11月12日至15日）上首次亮相，提供前一代产品的两倍性能。品英Pickering公司，是用于电子测试和验证的模块化信号开关和仿真解决方案的全球领先供应商，于2024年11月宣布推出新一代单槽PXIe嵌入式控制器（型号43-920-002）——目前在PXI Express平台上最为紧凑且功能强大的3U单槽嵌入式控制...

工业控制标签：品英Pickering PXIe 控制器测试测量

【“源”察秋毫系列】下一代半导体氧化镓器件光电探测器应用与测试

发布时间：2024-11-12

氧化镓（Ga2O3）探测器是一种基于超宽禁带半导体材料的光电探测器，主要用于日盲紫外光的探测。其独特的物理化学特性使其在多个应用领域中展现出广泛的前景。探测器性能由于材料不同、结构不同、制备工艺以及应用场景的不同的区别会有较大的性能差异。而性能指标之间往往存在制约，例如暗电流和输出电流、灵敏度和响应度、可靠性和灵敏度等需要权衡和折中。对于性能表征也是如此，高响应度一定无法和...

电源管理标签： Tektronix 半导体氧化镓光电探测器测试

射频 FDA 如何使用射频采样 ADC 来增强测试系统

发布时间：2024-11-11

为了在无线通信系统中实现更高的数据速率以及在雷达中使用更窄的脉冲来解析近距离目标，对测试和测量仪器的性能和带宽提出了更高的要求。高带宽示波器和射频数字转换器等射频 (RF) 测试和测量仪器可使用射频采样模数转换器 (ADC)，对从直流到数千兆赫的信号同时进行数字化。射频采样 ADC 取代混频器与窄带 ADC 的配置，降低了系统复杂性并提高了宽带测试和测量仪器、雷达和无...

物联网标签：射频 FDA 射频采样 ADC 测试

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