随着ASIC设计规模的增长，功能验证已成为整个开发周期的瓶颈。传统的基于软件模拟和硬件仿真的逻辑验证方法已难以满足应用的要求，基于FPGA组的原型验证方法能有效缩短系统的开发周期，可提供更快更全面的验证。由于FPGA芯片容量的增加跟不上ASIC设计规模的增长，单芯片已无法容纳整个设计，所以常常需要对设计进行逻辑分割，将子逻辑块映射到FPGA阵列中。 本文对逻辑验证系统的可配置互连结构和ASIC逻辑分割算法进行了深入的研究，提出了FPGA阵列的非对称可配置互连结构。与现有的对称互连结构相比，该结构能提供更多的互连通道，可实现对I/O数量、电平类型和互连路径的灵活配置。 本文对逻辑分割算法进行了较深入的研究。针对现有的两类分割算法存在的不足，提出并实现了基于设计模块的逻辑分割算法，该算法有三个重要特征：1)基于设计代码；2)以模块作为逻辑分割的最小单位；3)使用模块资源信息指导逻辑分割过程，避免了设计分割过程的盲目性，简化了逻辑分割过程。 本文还对并行逻辑分割方法进行了研究，提出了两种基于不同任务分配策略的并行分割算法，并对其进行了模拟和性能分析；验证了采用并行方案对ASIC逻辑进行分割和映射的可行性。 最后基于改进的芯片互连结构，使用原型系统验证方法对某一大规模ASIC设计进行了逻辑分割和功能验证。实验结果表明，使用改进后的FPGA阵列互连结构可以更方便和快捷地实现ASIC设计的分割和验证，不但能显著提高芯片间互连路径的利用率，而且能给逻辑分割乃至整个验证过程提供更好的支持，满足现在和将来大规模ASIC逻辑验证的需求。