发布时间：2023-02-14

受访者：KLA 战略合作高级总监 Jay Rathert 1. 汽车中如何使用半导体？如今汽车有何变化？ 过去十年，车载半导体数量急剧增长，如今现代汽车几乎每个主要子系统皆有其身影。半导体有助优化汽车性能，提高操作安全性，改善驾驶员和乘员的导航、通信和舒适度。 电气化、自动驾驶辅助以及车辆连接和通信等技术互为补充，从而增加了对半导体的需求。据统计，如今 80% ...

发布时间：2021-07-01

据外媒报道，KLA Corporation宣布推出四款用于汽车芯片制造的新产品：8935高生产率图案化晶圆检测系统、C205宽带等离子图案化晶圆检测系统、Surfscan® SP A2/A3非图案化晶圆检测系统和I-PAT®在线缺陷部件平均测试筛选解决方案。汽车行业一直专注于电气化、互联性、高级驾驶辅助和自动驾驶方面的创新，因此汽车会需要更多的电子设备，从而推动行业对半导体芯...

发布时间：2021-06-23

新的检测系统和创新在线筛选解决方案协助晶圆厂提高产品质量 加利福尼亚州米尔皮塔斯市，2021年6月23日——今天，KLA公司 宣布发布四款用于汽车芯片制造的新产品：8935高产能图案晶圆检测系统、C205宽波段等离子图案晶圆检测系统、Surfscan® SP A2/A3无图案晶圆检测系统和I-PAT®在线缺陷部件平均测试筛选解决方案。汽车行业在密切关注电气化、互联性、高...

发布时间：2020-12-14

KLA公司宣布推出两款全新产品：PWG5™ 晶圆几何系统与Surfscan® SP7XP晶圆缺陷检测系统。新系统专注解决先进的存储器与逻辑集成电路制造中遇到的极其困难的问题。 KLA全新的PWG5™ 图形晶圆几何量测系统和Surfscan® SP7XP无图案晶圆缺陷检测系统支持先进逻辑、DRAM和3D NAND产品的开发与...

发布时间：2020-09-22

KLA公司宣布推出Kronos™ 1190晶圆级封装检测系统、ICOS™ F160XP芯片分拣和检测系统以及下一代的ICOS™ T3 / T7系列封装集成电路（IC）组件检测及量测系统。这些新系统具有更高的灵敏度和产量，并包含下一代增强算法，旨在应对特征尺寸缩小、3D结构和异构集成所带来的复杂性，从而在封装阶段推进半导体元件制造。凭借更可靠地实施这些先进封装技术，KLA的客户...

发布时间：2020-07-21

KLA公司宣布推出革命性的eSL10™电子束图案化晶圆缺陷检查系统。该系统具有独特的检测能力，能够检测出常规光学或其他电子束检测平台无法捕获的缺陷，从而加速了高性能逻辑和存储芯片的上市时间（包括那些依赖于极端紫外线（EUV）光刻技术的芯片）。eSL10的研发是始于最基本的构架，针对研发生产存在多年的问题而开发出了多项突破性技术，可提供高分辨率，高速检测功能，这是市场上任何其他...

发布时间：2020-02-25

KLA公司宣布推出Archer™ 750基于成像技术的套刻量测系统和SpectraShape™ 11k光学临界尺寸（“ CD”）量测系统，它们的主要应用是集成电路（“ IC”或“芯片”）制造。在构建芯片中的每一层时，Archer 750有助于验证特征图案是否与前层对应结构图形对准，而SpectraShape 11k则帮助监控三维结构的形状，例如晶体管和存储单元，确保它们符合规...

发布时间：2019-07-09

KLA公司发布392x和295x光学缺陷检测系统和eDR7380™电子束缺陷检视系统。这些全新的检测系统是我们公司旗舰产品系列——图案晶圆平台的进一步拓展，其检测速度和灵敏度均有提升，代表了光学检测的新水准。全新电子束检视系统的创新使其自身价值进一步稳固，并成为缺陷和发现其产生根源之间的必要一环。对于领先的3D NAND、DRAM和逻辑集成电路（IC），该产品组合将缩短整个产...

发布时间：2019-04-19

在SEMICON China 2019期间，KLA在上海举办新闻发布会，企业传播高级总监Becky Howland女士和中国区总裁张智安先生向电子产品世界等媒体介绍了 汽车 半导体的 检测 技术。 KLA可提供 检测 和量测机台，找出在 制程 中导致可靠性问题的缺陷，让问题在最前端解决。KLA的新研究——在线 检测 数据辅助芯片筛选法，即正在申请专利的新...

发布时间：2018-08-31

KLA-Tencor公司 今日宣布推出两款全新缺陷检测产品，旨在解决各类集成电路（IC）所面临的封装挑战。 Kronos™ 1080系统为先进封装提供适合量产的、高灵敏度的晶圆检测，为工艺控制和材料处置提供关键的信息。 ICOS™ F160系统在晶圆切割后对封装进行检查，根据关键缺陷的类型进行准确快速的芯片分类，其中包括对侧壁裂缝这一新缺陷类型（影响高端封装良率）的检测。这...