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2020年10月13日 | 如何使用万用表测量晶振的好坏
2020-10-13 来源：elecfans
可以用万用表测量一下测量一下OSC_IN， OSC_OUT脚的电压，如果晶振起振，可以用直流档测到2-3V左右的电压。
如果测出的直流电压不在此范围内，说明晶振没有起振。
判断
一个晶振电路的好坏，主要有两个衡量因素：
1）振荡波形的幅度是否满足逻辑电平的要求
2）振荡波形的频偏是否满足要求
3）可靠性（包括环境温度，老化等各种情况的稳定性）
采用示波器测试振荡波形的幅度以及频率。
如果条件允许，对于》1MHz的高频的振荡波形，需要选用高带宽、高采样率、高存储深度的示波器进行测量，比如大几万的安捷伦示波器。并且采用专门的高频探头进行测量，否则示波器的探头可能会影响振荡条件。导致频率以及幅度与实际的不符。
波形的频偏和幅度跟负载电容有很多的关系，需要根据晶振规格书要求选择合适的容值。并且用品牌厂家的电容，一般晶振的规格书中会推荐电容厂家，优先列表中选择合适的厂家。Microchip的PIC处理器还需要通过配置字设置激励强度。
我们N年前的一款产品，1MHz-4MHz推荐使用中激励模式，》4MHz推荐高激励模式，我们在使用4MHz的晶振时，配置成中激励模式，导致少数几个产品在高温条件下时，其幅度只有3Vp-p，幅度不满足要求，单片机不工作，导致了批量返工。
在全工作温度范围内（0-85度）一般石英晶体的频率精度可以达到100ppm左右，如果用这个信号做为RTC时钟的时钟源，一年累积下来，时间大概会有1个小时的误差。如果是异步时钟的通信，对时钟的频率精度也有一定的要求。比如UART通信，为了避免bit位之间的错位，时钟的频率精度在全工作温、湿度范围内至少可以通过单片机的PWM功能，将晶振产生的振荡信号通过单片机PLL功能倍频之后再分频，比如分频到1Hz的信号，通过IO口输出，通过普通的单片机测量周期，测量其频偏。可以通过另一个常温下工作的单片机自动测量周期，将待测单片机放入高低温箱中，自动长时间测量1Hz的输出信号，对测试数据进行统计分析，判断工作状况。
史海拾趣
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