发布时间：2017-11-24

    光在传波过程中振动方向对于传播方向的不对称性叫做偏振，偏振是光作为电磁波的重要特征之一。偏振光探测在线性偏光镜（LPL）、偏振遥感以及医疗诊断治疗等方面已展现出广泛的应用前景。目前，对可见波段的偏振检测研究已比较普及，而对其它特殊波段的偏振探测有待进一步探索。近日，中国科学院半导体研究所超晶格室研究员李京波、魏钟鸣，与天津大学教授胡文平合作，围绕二维GeSe材料在短波...

发布时间：2014-09-20

本文提出了一种基于MEMS的 LED芯片 封装技术，利用体硅工艺在硅基上形成的凹槽作为封装led芯片的反射腔。分析了反射腔对 LED 的发光强度和光束性能的影响，分析结果表明该反射腔可以提高芯片的发光效率和光束性能；讨论了反射腔的结构参数与芯片发光效率之间的关系。最后设计r封装的工艺流程。利用该封装结构可以降低芯片的封装尺，提高器件的发光效率和散热特性。 图1 LED T...

发布时间：2014-08-28

本文提出了一种基于MEMS的 LED芯片 封装技术，利用体硅工艺在硅基上形成的凹槽作为封装led芯片的反射腔。分析了反射腔对 LED 的发光强度和光束性能的影响，分析结果表明该反射腔可以提高芯片的发光效率和光束性能；讨论了反射腔的结构参数与芯片发光效率之间的关系。最后设计r封装的工艺流程。利用该封装结构可以降低芯片的封装尺，提高器件的发光效率和散热特性。 图1 LED T...

发布时间：2014-08-22

本文提出了一种基于MEMS的 LED芯片 封装技术，利用体硅工艺在硅基上形成的凹槽作为封装led芯片的反射腔。分析了反射腔对 LED 的发光强度和光束性能的影响，分析结果表明该反射腔可以提高芯片的发光效率和光束性能；讨论了反射腔的结构参数与芯片发光效率之间的关系。最后设计r封装的工艺流程。利用该封装结构可以降低芯片的封装尺，提高器件的发光效率和散热特性。 图1 LED T...

发布时间：2014-04-17

IBM苏黎世研究实验室(IBM Research of Zurich)开发出一种尺寸极其微小的纳米线，具有一般标准材料所没有的光学特性，从而为开发出基于半导体纳米线的「新一代晶体管」电路研究而铺路。 该研究实验室与挪威科技大学(Norwegian University of Science and Technology)合作的最新发现是一种在硅基底上产生机械应变砷化镓...

发布时间：2013-11-27

中心议题： * 提出基于MEMS的LED芯片封装技术 * 分析反射腔对LED的光强和性能的影响 * 讨论反射腔参数与芯片发光效率的关系 解决方案： * 利用体硅工艺形成的凹槽作为封装led芯片的反射腔 * 设计r封装的工艺流程 经过几十年的发展，LED性能已经得到了极大的进步，由于它具有发光效率高，体积小，寿命长等优点，将成为新一代照明光源，被人们公认为是继白炽灯之...

发布时间：2013-05-21

简介 在一些微引擎、微型齿轮和其它MEMS装置中，偏离平面的运动（偏摆）对它们的使用性能和可靠性有很大影响，其后果包括齿轮脱离啮合和导致早期失效的非正常磨损。偏离平面的运动还会影响MEMS装置的动态响应，因为微型齿轮、甚至整个装配组件会产生不希望有的震颤或冲击载荷。 本文将描述Sandia微引擎驱动齿轮和输出齿轮的回转运动特性，表明未经平衡的微型齿轮在绕其轴线旋转时，其偏离...

发布时间：2013-05-03

1 激光全息照相检测 激光全息照相检测是一种全息干涉计量法。 物体内部的缺陷在受到外力作用时，例如抽真空（施加负压）、充气加压、加热、振动、弯曲等加载方式的作用下，与缺陷对应的物体表面将产生与周围不同的局部微小变形（位移），采用激光全息照相的方法，将发生变形前后两个光波的波阵面记录下来进行对比观察，从而可以判断并检出物体的内部缺陷。 激光全息照相是利用光的干涉现象，右图为...

发布时间：2011-12-07

　　 LED 是利用化合物材料制成 pn结 的 光电 器件。它具备pn结结型器件的电学特性：I-V特性、C-V特性和 光学 特性：光谱回应特性、发光光强指向特性、时间特性以及热学特性。 　　LED光学特性 　　发光二极体有红外（非可见）与可见光两个系列，前者可用辐射度，后者可用光度学来量度其光学特性。 　　发光法向光强及其角分佈Iθ 　　 发光强度 （法向光强）是表征...

发布时间：2011-12-05

　　 LED 是利用化合物材料制成 pn结 的 光电 器件。它具备pn结结型器件的电学特性：I-V特性、C-V特性和 光学 特性： 光谱 回应特性、发光光强指向特性、时间特性以及热学特性。 　　 LED光学特性 　　发光二极体有红外（非可见）与可见光两个系列，前者可用辐射度，后者可用光度学来量度其光学特性。 　　 发光法向光强及其角分布Iθ 　　 发光强度 （...