泰瑞达推出业界卓越的UltraPHY解决方案，为当前及下一代高速接口提供全面性能测试

2025年10月13日，中国 北京讯——全球领先的自动测试解决方案和先进机器人供应商泰瑞达今日宣布推出一款基于UltraFLEXplus平台的突破性高速PHY性能测试板卡——UltraPHY 224G。该解决方案与已量产并被多家客户采用的UltraPHY 112G板卡形成更完善的产品组合。两款解决方案均针对UltraFLEXplus设计，并借助泰瑞达先进的IG-XL软件，方便用户快速上手使用。

UltraPHY 224G由泰瑞达采用Multilane模块研发，可为量产测试提供实验室级别的信号生成与测量功能。该产品按照严格的软硬件标准打造，为测试密度和信号保真度树立新标杆，以满足下一代芯片高速接口的需求。

泰瑞达副总裁兼计算测试事业部总经理Roy Chorev表示：“随着泰瑞达UltraPHY 224G的推出，我们进一步扩充产品组合，以满足下一代PHY更苛刻的测试要求。客户可以放心，泰瑞达对UltraPHY的投入既能支持当前的芯粒架构、先进封装及KGD工作流程，也能满足未来的技术需求。”

UltraPHY 112G针对当前的高速标准进行优化，而UltraPHY 224G拓展性能边界，可满足数据中心和硅光子（SiPh）市场中新出现的数据速率需求。两款板卡可在同一UltraFLEXplus平台上同时使用，为客户提供极大的灵活性，轻松应对当前和未来的各类高速接口测试需求。

每个UltraPHY 224G板卡提供8个全双工差分通道和8个纯接收差分通道，采用DSO + BERT架构，并支持高达112 Gb/s NRZ和224 Gb/s（112 Gbaud PAM4）的数据速率。与泰瑞达的UltraPHY 112G一样，UltraPHY 224G具有极高的可扩展性，每个UltraFLEXplus平台可支持多个板卡，并能随着行业发展而灵活支持新出现的先进调制格式。

主要优势包括：

• 单一测试平台满足所有PHY测试需求–UltraPHY 224G和UltraPHY 112G均基于泰瑞达UltraFLEXplus设计。

• 平台共存–同一UltraFLEXplus可同时搭载UltraPHY 224G和UltraPHY 112G，实现PHY测试的全数据速率覆盖。

• 依托泰瑞达应用广泛的IG-XL软件，大幅简化测试程序开发与调试诊断工作。

• 基于先进的实验室技术，UltraPHY提供全面集成的量产测试解决方案，并由泰瑞达统一提供服务和支持。

• 集成DSO、AWG和BERT功能，可实现全面的PHY量产测试和特性分析。

• 信号传输带宽超50GHz，其可靠性已在生产环境中得到验证。

• 架构具有可扩展性，能支持当前和未来适用于SiPh及非SiPh芯片的电气接口标准。

随着高速PHY接口不断演进，部署在同一测试平台（泰瑞达UltraFLEXplus）上的泰瑞达UltraPHY成为一种能够满足未来需求的解决方案。