据ABIResearch分析预测，到2026年，支持UWB的设备的出货量将从2020年的1.43亿台增长到超过13亿台。按照他们的说法，UWB已成为一种安全、精细的测距技术，可以实现其他无线连接技术无法有效支持的各种基于位置的用户体验。2016年的时候，UWB首先在资产管理和位置服务方面获得了市场吸引力，从2019年进入消费市场后，UWB呈现爆炸性增长，首先受到关注的是智能手机市场。ABIResearch消费者技术研究分析师Filomena

寻求明白人帮助QQ153348369付费寻求论文dsp部分代写（哈尔滨地区）楼主最好自己用心做做，这样才有所提高请问楼主是哈尔滨哪个学校？不会是我的母校？要是校友，我给你找找

今天知道了，这个solution呢和其他的工作空间概念相似，是多个project的集合。因此今天就在上次的solutionD21test下开始，先打开solution。添加一个新的project，这个过程和上次的一样就不多说了，主要区别就是addtosolution然后setasstartup，就应该是默认的项目了吧，没找到其他可能的选项。按照板子出来的呢，就还是这个按键控制LED。我们来熟悉一下文档结构。大概有库函数和源代码两部分。lib比较少，就一个math和libm，估计暂

最近在用430f169做主机，控制ADS1246实现24位的AD采集，但是调试的结果都不对，现在不知道是哪里有问题，不清楚430发送的数据AD芯片有没有接收到，读到的数都是0xff，每次用仿真器调试初始化后接收寄存器的值是0x7f，读寄存器的值也读到的全是0xff，快过年了，做不出来，导师不让回家，求各位大神帮帮忙！voidADS1298_SPI_Init(void){//U0CTL=CHAR+SYNC+MM+SWRST;P3SEL|=0x0E;

我在做一个对数电路，有个要求三极管反向饱和电流is为1微安，这是什么意思啊，跟发射结反向饱和电流是同一值？这个三极管怎么找啊做过对数指数电路的请进

碳化硅MOSFET栅氧可靠性-碳化硅功率器件可靠性最短板-长期工作可靠性薄弱点考核为了让SiCMOSFET和Si器件一样可靠，在处理时必须大限度降低栅极氧化层缺陷密度。此外，必须开发创新的筛查技术例如通过电气终端测试，以识别并剔除可能有缺陷的器件。在终测中筛选有缺陷的器件，通常需要对每个器件施加预定幅值和时间的高栅极电压应力脉冲。该应力脉冲可用于识别出具有关键外部缺陷的器件，留下没有外部缺陷的、或只存在非关键外部缺陷的器件。在筛查中留下来的剩余器件具有明显更高的栅极氧化层可靠性