​ 尼得科精密检测科技将亮相“SEMICON KOREA 2026”

尼得科精密检测科技株式会社（以下简称“本公司”）将参展2026年2月11日（周三）～2月13日（周五）于韩国首尔COEX会议中心举办的“SEMICON KOREA 2026”。

本次展会将展出助力下一代功率半导体(IGBT/SiC)市场的检测设备“NATS系列”以及汇总了集团技术的最新检测解决方案。

本公司子公司尼得科SV Probe将首次在韩国展出晶圆检测夹具“探针卡”的最新解决方案，包括可实现半导体器件温度测量的TC(Thermo Couple：热电偶)探针，以及采用2D MEMS技术的探针卡等产品。

此外，我们还将展示本公司核心产品半导体封装基板电气检测系统“GATS系列”的最新机型。

〈参展概要〉

• 展期：2026年2月11日(周三)～2月13日(周五)

• 会场：首尔市　COEX会议中心

• 展位：1楼Hall Grand Ballroom　G004　

〈展品及Panel展示内容〉

• 2D-MEMS探针卡         

• 垂直型 高电流 PROBE

• 器件温度测量 PROBE 

• 玻璃微孔加工

• IGBT/SiC模块用绝缘/静态特性/动态特性检测设备　“NATS-1000/1700系列”

• KGD测试装置“NATS-1300系列” 

• RWi-300MK(wafer AOI)

• AC/DC多功能测试仪“R-700系列” 

• AI服务器大型电路板电气检测系统“GATS-8360”

• 超高精度检测用针式探针